本技术公开了一种打标盘清洁装置，包括支撑架、驱动电机、清扫机构以及吸尘机构；驱动电机固定在支撑架上，清扫机构与驱动电机的驱动轴连接，清扫机构能够通过驱动轴进行自转；吸尘机构包括吸尘器和真空气管，真空气管的一端与吸尘器连接，另一端连通清扫...

本技术公开了一种编带二次封合装置及系统，装置包括底座、盖板、限位板和可调节轨道板；盖板固定在底座一端的上方，盖板与底座之间构成载带出口；限位板固定在底座另一端的上方，限位板上设有载带入口；可调节轨道板设在盖板和限位板之间的底座上方，载带...

本技术公开了一种用于键合工序腐球的治具，包括底座、导柱、检验压板和看料板；检验压板通过导柱与底座连接，检验压板与底座平行，检验压板可沿着导柱的方向相对底座运动，检验压板置于检验压板和底座之间，看料板上放置有料条，检验压板上设有槽孔，检验...

本技术公开了一种用于半导体封装编带的检验装置，包括底座、编带通道、输入驱动、输出驱动以及显微摄像装置；编带通道、输入驱动和输出驱动设在底座上，输入驱动和输出驱动的形状结构相同，均包括立柱和摇柄，且分设在所述编带通道两端，立柱上分别装有输...

本技术公开了一种银胶醒胶放置架，包括底座、固定板、显示屏、控制板和感应器；固定板架设在底座上方，固定板上设有均匀分布的放置孔，底座上设有控制板，感应器嵌设在底座上，每个感应器的感应触点均与固定板上的所述放置孔对应，控制板嵌设在底座底部，...

本实用新型公开了一种键合工序废线材回收装置，包括回收主体，气管转换接头、散线回收仓以及连接支架；回收主体和散线回收仓内部中空，回收主体顶部设有回收口；回收主体与散线回收仓装配连接，且内部连通，连接支架与回收主体连接，回收主体还与气管转换...

本实用新型公开了一种料盒检测装置，包括基座、检测部件和设置在基座上的固定板，固定板为L型结构，一端与基座连接，另一端连接检测部件，检测部件与基座之间存在间距，检测部件外侧设有若干相同的定位齿，定位齿之间的间距相同，定位齿对称分布在所述检...

本发明公开了一种后备电源模组管理单元，属于电源管理领域，包括恒流恒压充电单元和升压单元，恒流恒压充电单元与升压单元连接。本发明减小了尺寸、成本和复杂性，可以实现充电模式和备份模式两种模式工作，保障系统的稳定性，同时实现了轻载高效，提升了...

本实用新型公开了一种测试站电阻防呆装置，涉及半导体测试站辅助设备技术领域，它包括基础底座、固定在基础底座上的绝缘底座；测试站电阻防呆装置包括固定在绝缘底座上的安装插座、插入并连通安装插座的电阻座、固定在电阻座上并与电阻座连通的电阻。安装...

本实用新型公开了一种盖带粉末吸附清理装置，涉及半导体测试编带技术领域，它包括支架、设置在支架上的清理刷，清理刷接触有盖带，支架上开设有相互连通的连接孔和吸附孔，连接孔连通吸附器，吸附孔靠近清理刷设置。盖带在行进过程中经过清理刷，由清理刷...

本实用新型公开了一种半导体塑封不良品返工治具，涉及半导体封装产品处理设备技术领域，它包括依次设置的压板、切除件、定位件、底座，切除件和定位件相正对；底座上固定有导杆，压板与导杆滑动连接并能够沿导杆移动；切除件朝向定位件的一面突出设置有切...

本实用新型公开了一种半导体封装辅助贴膜装置，涉及贴膜辅助设备技术领域，它包括转动连接的底座和上盖，底座上固定有定位环，定位环与铁环相适配，定位环中部固定有晶圆垫，晶圆垫与晶圆相适配；上盖朝向底座的一面固定有压环，压环与定位环相适配。晶圆...

本实用新型公开了一种上料板可移动式半导体封装用上料饼机，涉及半导体封装设备技术领域，它包括一面敞开的壳体、竖直并转动设置在壳体内部的螺杆、与螺杆螺纹连接的底板、可拆卸设置在底板上的上料板，螺杆正反向旋转，带动底板沿螺杆纵向升降。上料板需...

本发明公开了一种电压调节器，偏置电路的输入端和驱动电路的输入端均接入高压信号；偏置电路包括若干级用于对高压信号进行降压的隔离器件，偏置电路的输出端连接温度补偿电路，偏置电路的输出端还连接驱动电路的控制端；温度补偿电路连接驱动电路的输出端...

本实用新型公开了一种芯片引线框架，涉及半导体封装技术领域，它包括固定有芯片的载片台、通过引线与芯片连接的输入配线台和输出配线台；输入配线台位于载片台上方，输出配线台位于载片台左下方。芯片左上角的接地连接点与载片台左侧通过引线连接，芯片受...

本实用新型公开了一种分批布料的半导体封装用上料饼机，涉及半导体封装设备技术领域，它包括箱体，箱体内底部滑动连接有底板，底板上可拆卸连接有上料板，上料板上直线排布有料孔，箱体外侧壁固定有进料仓，进料仓底部连通有穿入箱体内部的出料管，出料管...

本发明公开了一种减少DC‑DC电源电磁干扰的装置和方法。驱动电路受控产生驱动电流，第一电流镜和第二电流镜分别镜像驱动电流为第一电容充电，锁存器对第一点电容释放高电平的时间锁存，锁存器输出信号翻转后得到翻转信号，翻转信号同振荡器输出的信号...

本实用新型公开了一种芯片测试座，涉及芯片测试技术领域，它包括连接在测试电路板上的连接座、与连接座连接的固定座和安装座；固定座上设置有弹性件，安装座固定在弹性件上，且其上安装有芯片。连接座安装在测试电路板的正上方，固定座和安装座设置在连接...

本实用新型公开了一种芯片测试安装组件，涉及芯片测试技术领域，它包括位于测试电路板正上方的固定座、安装座；固定座上设置有弹性件；安装座固定在弹性件上，且其上安装有芯片。测试电路板位于固定座的正下方，在安装座上施加向下的压力，安装座压缩弹性...

本实用新型公开了一种用于测试芯片触点的金手指组件，涉及芯片测试设备配件技术领域，它包括相对设置且彼此绝缘的第一金手指和第二金手指；第一金手指的底部右侧向下延伸有第一长引脚，第二金手指的底部左侧向下延伸有第二长引脚，第一长引脚与第二长引脚...