本发明涉及一种基于晶圆图检测数据生成知识点的方法，包括：获取晶圆图数据，所述晶圆图为半导体制造过程中包含缺陷的晶圆图；根据所述晶圆图对应的像素阵列，对所述晶圆图进行分割，得到若干包含单个晶圆缺陷的缺陷子图；将所述若干缺陷子图中的目标缺陷...

本发明涉及一种知识图谱可视化的方法，包括：获取知识图谱配置信息，所述知识图谱包括节点及其间的关系边；所述配置信息中包括区域划分信息以及各区域各自对应的布局方式；根据所述区域划分信息，将知识图谱所在的平面划分为若干个区域；对于所述若干个区...