本发明涉及芯片测试的技术领域，公开了一种晶圆多等级测试方法及装置；本发明通过对晶圆的表面冗余物、滑移线缺陷以及WAT测试为待测试晶圆赋予三个标记，并根据标记对晶圆进行分类，在完成分类后从各个类别中各抽取一个待测试晶圆用于制备目标芯片，并...

本发明涉及芯片测试的技术领域，公开了一种TF卡老化测试方法、装置以及系统，本发明通过自动化程序，对TF卡进行大文件连续写入测试、脏盘测试、小文件连续写入测试以及满盘读取测试，来获取TF卡的实际读写速度，将TF卡的实际读写速度与TF卡的标...

本发明涉及人工智能领域，公开了一种存储芯片的测试方法、装置、设备及存储介质，用于提高存储芯片的测试效率。所述方法包括：获取目标存储芯片在预设测试周期内的芯片测试数据；对芯片测试数据进行测试数据解析，得到测试温度数据和测试电压数据；对测试...

本实用新型公开了一种多功能集成电路芯片测试机，包括主支架、传送机构、测试机构、标记机构、治具以及CCD相机，所述传送机构用于将载有集成电路芯片的治具移动到测试工位，所述测试机构在测试工位对集成电路芯片进行检测，所述CCD相机用于识别所述...

本实用新型公开了一种芯片测试流水线，包括工作平台，所述工作平台上设置有传送机构和驱动机构，所述驱动机构用于抓取传送机构传送的用于承载芯片的测试治具，所述传送机构两侧设置有良品下料机构和不良品下料机构，所述工作平台上设置有两个下料孔，所述...

本实用新型公开了一种基于fpga的集成电路芯片测试机，包括上料传送带、驱动机构、检测机构、第一下料传送带、第二下料传送带以及装载有集成电路芯片的治具，所述检测机构包括检测支架，所述检测支架上设置有连接检测设备的fpga板卡，所述fpga...

本实用新型公布了一种自动化芯片测试装置，它包括沿长度方向设置有滑槽的测试机体以及配设在所述滑槽上与滑槽活动连接的芯片安装座；其中测试机体沿竖直方向开设导通所述滑槽的上料口和检测口，在所述检测口的上端配设上芯片测试座；其中所述的芯片安装座...

本实用新型公布了一种数字芯片测试机，它包括插座主体和测试针座，其中插座主体顶面向下设置支撑槽体，在支撑槽体的两侧的配设阶梯槽，在阶梯槽沿长度方向开设插口槽，插口槽内沿侧壁方向向外延伸右弹性件，右弹性件用于接触芯片管脚的一端面；其中测试针...

本实用新型公布了一种可同时测试多个待测芯片的测试装置，它包括：输送机构，其上配装有若干用于放置待测芯片的测试座；测试机构，其配置在输送机构的上端，包括行程气缸和配置在行程气缸上的测试盖，所述测试盖上设置有与测试箱连接的探针，所述探针与所...

本实用新型公布了一种用于IC芯片测试的装夹装置，它包括夹台，所述夹台上配设有两组宽度对中夹持块以及两组长度对中夹持块，上述的宽度对中夹持块和长度对中夹持块分别与夹台滑动连接，其后端面均通过弹性件连接推块，在所述夹台的内部设置驱动推块对中...

本实用新型公开了一种nand flash储存芯片测试治具，包括治具主体，所述治具主体上设置有两个测试槽，所述测试槽内设置有与nand flash储存芯片的引脚相对应的测试触点，所述测试槽的上方设置有定位支架，所述定位支架上螺纹连接有定位...