本技术涉及芯片外观检测技术领域，尤其涉及一种芯片外观检测设备。其技术方案包括：支撑台，所述支撑台的上表面从左到右依次安装有第一皮带输送机、翻面机构和第二皮带输送机，所述第一皮带输送机、翻面机构和第二皮带输送机的后端分别设置有第一检测去废...

本技术涉及芯片预处理设备技术领域，尤其涉及一种用于芯片检测的预处理装置。其技术方案包括：支撑台，所述支撑台的上表面从左到右依次安装有第一皮带输送机、翻面机构和第二皮带输送机，所述第一皮带输送机的前端和后端均设置有第一限位导向机构，且第一...

本发明属于智能芯片检测技术领域，具体涉及一种基于光光通信的智能芯片检测系统及检测方法。该发明通过多级判定的方式逐级对智能芯片进行检测，在检测过程中还能够发现前端信号导入设备是否异常，同时也能够对智能芯片的故障进行排查，及时发现故障能够方...

本发明属于半导体芯片检测技术领域，具体涉及一种半导体芯片表面缺陷的人工智能检测方法及其装置，该一种半导体芯片表面缺陷的人工智能检测装置，包括检测装置主体、喷射部、调节部、固定部和收集部。该发明，在镜头成像异常时，使镜头移动至固定筒的上部...

本发明涉及芯片测试技术领域，具体是一种芯片出厂耐压测试装置，包括测试箱，测试箱内设置有第一测试腔和第二测试腔，包括：转送箱，转送箱设置于测试箱的一侧，且转送箱与第一测试腔和第二测试腔分别通过中转仓相连通；芯片支架，芯片支架滑动设置于测试...

本发明涉及MCU芯片检测技术领域，具体公开了一种MCU芯片热阻值检测装置及其系统，用于解决芯片热阻值检测装置出现检测部位出现温度残留，影响到芯片检测准确性的问题。包括检测台，所述检测台上方设置有输送架，其特征在于，还包括输送带，所述输送...

本发明涉及机器视觉缺陷检测技术领域，具体为一种芯片金线缺陷检测装置，包括检测台，所述检测台上端面的中部设置有固定架，且固定架的内部设置有检测摄像头，本发明通过在检测台上设置上料部，实现对检测芯片的自动送料，提高对芯片金线缺陷检测的效率，...

本发明属于视觉设备表面清洁技术领域，具体涉及一种基于机器视觉的芯片表面缺陷检测装置及其检测方法，包括视觉检测设备，应用于芯片检测，所述视觉检测设备用于对芯片表面缺陷进行检测，其中，所述视觉检测设备包括视觉检测组件，包括清洁部，清洁部设置...