本发明公开了一种动态随机存储器的测试方法及存储介质，该方法包括将动态随机存储器的存储空间划分成至少两个测试单元；获取用于测试的多个背景数据；对于每个背景数据，将背景数据写入动态随机存储器的存储空间后，按照测试单元的地址顺序，根据背景数据...

本发明公开了一种ODT校准方法、计算机设备及存储介质，该方法包括：获取初始阻值和总校准次数；获取当前校准次数；根据初始阻值与当前校准次数确定ODT的目标阻值；根据目标阻值进行Training动作，并记录与目标阻值对应的运行指标；当当前校...

本实用新型公开了一种LPDDR降容电路及具有其的装置，LPDDR降容电路包括SOC控制芯片、第一LPDDR芯片和第二LPDDR芯片；其中，SOC控制芯片、第一LPDDR芯片和第二LPDDR芯片均为32位的芯片，且都具有双通道；第二A通道...

本发明涉及一种动态随机存储器的测试方法，包括：擦除动态随机存储器的待测区域中的数据(S101)；在所擦除的待测区域中再写入数据，其中，将待测区域平均分页，在首页中写入数据，通过拷贝相邻页中数据的方式写满整个待测区域(S102)；读取所写...

本发明涉及一种多内存芯片的产品信息辨别方法，包括以下步骤：初始化动态随机存储器芯片(S101)；获取DRAM控制器的扫描结果(S102)；读取JEDEC读取寄存器的数据(S103)；根据DRAM控制器的扫描结果、JEDEC寄存器的读取数...

本发明公开了一种LPDDR的bank地址映射方法，包括以下步骤：通过SOC芯片的DRAM控制器，采用测试算法对LPDDR芯片的每个bank分别写入测试数据并读取；分别比较每个bank写入的测试数据与读取的数据是否一致，若一致，则判定相应...

本发明公开了一种动态随机存储器的测试方法及系统，具体包括以下步骤：步骤一、准备操作；步骤二、数据测试；步骤三、问题诊断；步骤四、中值选定；步骤五、问题定位；步骤六、展示记录；本发明涉及存储器测试技术领域。该动态随机存储器的测试方法及系统...

本实用新型公开了一种一种基于展讯平台的LPDDR4芯片的测试装置，包括：治具架和设置在治具架上的展讯SOC测试控制模块、显示模块、电流检测模块、开关控制模块和测试架；开关控制模块一端与外界电源连接，其另一端与展讯SOC测试控制模块连接，...

本实用新型公开了一种LPDDR4芯片电流检测装置，包括：检测主控模块、电流检测模块、LPDDR4测试架、检测控制模块、电源模块、继电器模块、串口通信模块和上位机；所述检测主控模块分别与所述串口通信模块、所述检测控制模块、所述继电器模块和...