本申请公开了一种对芯片批量测试的方法及其系统、电子设备、存储介质；涉及芯片测试领域；方法包括：响应于测试配置指令生成测试配置文件，并将测试配置文件下发至测试设备；响应于测试启动指令，根据测试配置文件，同时对批量的待测芯片进行并行测试处理...

本申请公开了数据测试方法、电子设备及存储介质，其中，数据测试方法应用于片上系统；方法包括：初始化存储器和内存管理单元；通过内存管理单元划分存储器的内存空间，得到多个内存段，并对所有内存段进行编号，得到内存序列；向内存管理单元发送测试指令...

本技术公开了一种机台，属于测试设备技术领域。该机台包括：基架，具有工作台；活动组件，包括第一托盘、活动板和下压部件，活动板设置于工作台上且能够相对于工作台升降，第一托盘活动设置于工作台和活动板之间，第一托盘能够沿第一方向移动，第一托盘用...

本技术公开了一种芯片抗夹转移夹具，包括：基座；夹块，设置有两块，夹块可滑动地设置在基座上，两块夹块可相对靠近或远离，两块夹块相对的一端均设置有缓冲块，两块夹块用于驱动缓冲块以夹持芯片；驱动件，设置在基座中，驱动件传动连接夹块，驱动件用于...

本实用新型公开了一种可用于芯片的多用途治具，包括底板、旋转座、定位件、横板和围挡，旋转座、定位件、横板和围挡的数量均为多个且一一对应设置。底板的上表面开设有用于限位基板的限位槽，定位件与旋转座的旋转中心同轴设置；横板的一端设有导向孔，导...

本实用新型公开了一种SSD插拔测试系统，涉及SSD技术领域。SSD插拔测试系统包括测试主板、插拔试验机、待测SSD、供电装置和断电装置；测试主板设置有第一转接板，第一转接板设置有第一金手指母座，第一金手指母座连接有第一金手指；插拔试验机...

本发明实施例提供了一种

本申请公开了硬盘测试方法

本发明实施例提供了一种模拟游戏场景的device测试方法、控制器、系统和介质，该测试方法，包括，获取device的存储空间信息，并确定测试指令；根据测试指令从目标测试游戏对应的测试模型中获取测试行为信息，测试模型根据多个真实游戏过程对d...

本申请提供了一种测试板数据传输方法、装置、设备、存储介质,方法包括：根据数据分类规则和待发送测试数据得到多个携带有测试标签的测试数据；根据数据传输策略和测试标签对全部的测试数据进行排序，得到排序结果；确定各个子板的测试属性信息；基于排序...

本发明公开了一种数据展示方法、系统、装置及存储介质。显示数据展示界面；数据展示界面包括第一信息展示区域和第二信息展示区域；响应于参数设定指令，基于可视化工具的第一组件在第一信息展示区域显示第一图表，在第二信息展示区域显示第二图表；响应于...

本发明实施例提供了一种脱机测试方法及其装置、电子设备、存储介质。方法包括：响应于测试开关的闭合，从预先配置的测试任务的测试计划中确定测试用例；自动执行测试用例，对eMMC芯片进行测试；保存每次测试过程中生成的日志信息，日志信息用于记录测...

本发明提出了一种芯片测试界面显示方法、装置、设备、存储介质，应用于编辑屏幕和待使用屏幕，编辑屏幕与待使用屏幕相连接，编辑屏幕显示指标界面和画布界面，指标界面有测试指标类别工具，画布界面的长宽比与待使用屏幕的长宽比相同，方法包括：导入测试...

本发明公开了一种芯片引脚加工装置，属于芯片引脚技术领域，本芯片引脚加工装置包括：机架；传送带，传送带沿前后方向设置在机架上，传送带上等间距地设置有多个夹持机构，夹持机构用于夹持芯片在传送带上运输；折弯辊筒，折弯辊筒设置在机架上，折弯辊筒...

本申请公开了硬盘自动测试方法、系统及介质，应用于测试系统，测试系统包括多个测试选项，方法包括：接收用户通过测试系统输入的测试指令；根据测试指令确定测试次数以及与测试指令对应的至少一个测试选项；在测试次数大于等于两次的情况下，调用与测试选...

本发明公开了一种子母板芯片的测试方法及系统，方法包括：获取芯片的第一确认信息，将第一确认信息发送至IoT信道，母板接收第一确认信息，并根据第一确认信息和预设的对应关系生成选择信息，将选择信息发送至上位机，上位机根据选择信息选择测试程序和...

本申请公开了硬盘掉电测试方法、系统及介质，方法包括：对待测硬盘进行逻辑分区，得到第一分区和第二分区；向第一分区的至少一部分区域填充预设的样本数据，并向第二分区发送测试指令；对待测硬盘进行异常掉电；当待测硬盘通过异常掉电，将样本数据拷贝至...

本发明公开了一种芯片测试结果的展示方法、系统、装置及存储介质。该方法包括：创建第一链表，第一链表用于记录串口顺序；显示芯片测试的主界面，主界面设置有功能选取区域、串口工作区域和属性标识区域；在功能选取区域上接收到对串口定位指令的触发操作...

本申请公开了硬盘磨损测试方法、装置及介质，其中，硬盘磨损测试方法包括：在预设的测试次数内，通过预设的fio对待测硬盘进行垃圾回收测试，得到第一测试报告；根据第一测试报告确定待测硬盘的硬盘性能；在硬盘性能满足预设的性能指标的情况下，将待测...

本申请公开了一种固态硬盘的测试方法，将待测试的固态硬盘进行分区，并在固态硬盘的一个分区中安装操作系统，并生成用于对固态硬盘执行起始测试模式的第一测试参数；调用测试软件，并设置测试软件的当前测试对象为固态硬盘；根据第一测试参数设定测试软件...