深圳市高麦电子有限公司专利技术

深圳市高麦电子有限公司共有17项专利

  • 本发明涉及一种精密四线式测试机,包括用于测试的测试机主体,所述的测试机主体下侧设置有散热装置,散热装置下端安装有底板,底板上端设置有与测试机主体相连接的自动测试装置,自动测试装置包括设置在底板上端的支撑架,支撑架的一侧与测试机主体之间设...
  • 本实用新型涉及一种PCB高精度测试架,属于PCB测试技术领域,解决了现有PCB测试技术中,PCB位置误差为影响测试的因素之一,轻者测试结果不正确,重者会导致探针与PCB受到损伤的问题;本方案包括测试台、安装座、驱动源以及设置在测试台与安...
  • 本实用新型涉及一种多通道散热式半导体测试治具,属于半导体测试中的散热技术领域,解决了现有半导体测试技术中,其散热方式由直接散热与间接散热组成,散热效率以及散热效果均不佳的问题;本方案包括平台、安装座以及驱动源,平台的内部中空且侧部设置有...
  • 本实用新型涉及一种防电弧式半导体测试治具,属于半导体测试中的防电弧技术领域,解决了现有技术中,因操作不当或相邻两引脚接触或探针同时与两个以上的引脚发生接触等等因素时,会造成短路,极易出现电弧或打火花等现象,烧毁半导体上的集成电路,严重的...
  • 本实用新型公开了一种半导体芯片测试用多重微调测试架,属于半导体芯片的测试领域,解决了现有测试架在多重微调过程中,很容易发生误碰已调节好的旋钮,导致最终的微调结果发生误差的问题;本方案包括测试架,测试架上安装有用于对半导体芯片进行承托的承...
  • 本发明提供了一种半导体探针测试治具及系统,包括:底座、承载组件、固定组件、安装组件及探针本体,所述承载组件及所述固定组件设置在所述底座上,所述探针本体通过所述安装组件安装在所述固定组件上,所述探针本体位于所述承载组件上方,所述承载组件用...
  • 本实用新型公开了一种高精度自动对位ICT测试设备,属于电路板的测试领域,解决了现有电路板焊点稳固性测试过程中,焊点不稳定的部分分布没有规律且不容易被观察,导致测试不便,难度较高的问题;本方案通过测试杆与焊接在电路板上的元件接触,通过弹簧...
  • 本实用新型公开了一种全自动印刷电路板四线测试装置,属于电路板测试领域,包括底座,底座上设置有用于对电路板进行四线测试的测试元件、用于牵引测试元件沿竖直方向上升或下降的升降构件,解决了现有电路板四线测试过程中,灰尘以及静电未消除,会对测试...
  • 本实用新型公开了一种超高精密芯片测试探针,属于芯片测试领域,解决了现有对芯片进行探针测试的过程中,由于探针针头过细,很容易使芯片受损的问题;本方案在探针与芯片接触后,通过使内套芯、外筒壳的底部与芯片接触,增大探针头与芯片的接触面积S,通...
  • 本实用新型公开了一种高精密复合式PCB测试治具,属于线路板领域,解决了现有双面PCB的翻面技术,效率低,花费时间多的问题;本方案中的测试元件在竖直上移远离双面PCB的过程中,翻面构件首先被触发并使双面PCB悬空位于测试元件与底座的中间,...
  • 本实用新型公开了一种触电自校验的半导体测试治具,属于半导体测试治具领域,解决了现有技术中,半导体测试治具只对半导体进行电路检测,而未针对半导体中的相邻引脚之间是否发生接触以及半导体中的引脚焊接处的牢固性进行检测的问题;包括底座,底座的上...
  • 本发明涉及一种半导体用数控模块变距针脚测试冶具的使用方法,其步骤在于:S1:通过间距调整机构对两组探针机构之间的距离进行预设调整,同时,驱动构件与安装构件配合驱使同一组探针机构中的相邻两个探针之间距离与半导体位于同一侧的相邻两个针脚之间...
  • 本发明涉及一种自适应数控模块可变距针脚半导体测试冶具,其包括主架,主架上安装有承托平台、移位装置、探针测试装置,承托平台用于承托待测试的半导体,移位装置用于牵引探针测试装置移动至与待测试的半导体针脚接触,探针测试装置用于对半导体进行测试...
  • 本实用新型公开了一种高精度PCB自动测试架,包括底座盒、圆盘、检测头、防护罩和显示屏,所述底座盒的内部安装有伺服电机,所述第一齿轮的内壁设置有第一棘爪,所述连接轴的顶部安装有置物板,所述夹块的底部连接有T型杆,且T型杆的两端设置有弹簧,...
  • 本实用新型公开了一种高效显示面板的测试电路及测试装置,包括墙体控制面板,所述操作面板的后端外表面设置有盖板,所述盖板的前端外表面固定安装显示器,所述操作面板的上端外表面设置有接线板与松开按钮,所述接线板位于松开按钮的一侧,所述接线板的上...
  • 本实用新型公开了一种多功能测试机,包括底板,所述底板底面的四个端角均安装有支撑脚,所述支撑脚的底端安装有橡胶吸盘,所述底板的上端面安装有外壳,所述外壳的前端面安装有显示面板,所述显示面板的前端面安装有显示屏,所述显示屏的一侧安装有蜂鸣器...
  • 本实用新型公开了一种新型高精密测控装置,包括金属箱体,所述金属箱体的内部安装有第一电流表,所述第一电流表的下方安装有隔板,所述隔板的下方安装有电池仓,所述电池仓的内部安装有蓄电池,所述第一电流表的一侧设置有指针储存仓,所述指针储存仓的内...
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