本技术涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种测试弹片及测试装置，包括测试结构、弹性结构和固定结构；以及测试结构，包括第一连接部、第二连接部和第一弯折部，所述第一连接部和第二连接部均沿第一方向延伸，且所述第一连接部和第二连接部沿第二方向并...

本发明涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种测试弹片及测试装置，包括测试结构

本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种芯片测试结构，包括测试座主体、以及均匀设置在所述测试座主体的若干组测试片组件，每组所述测试片组件均至少包括有第一测试片和第二测试片，所述第一测试片和第二测试片均分别包括有测试片主体，第一接...

本实用新型涉及一种芯片测试结构，包括测试座主体、以及沿X轴方向均匀并列设置在所述测试座主体的若干组测试片组件，每组所述测试片组件包括有第一测试片和第二测试片，所述第一测试片和第二测试片分别设置在所述测试座主体上；所述第一测试片和第二测试...

本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种芯片测试结构，包括测试座主体、以及均匀设置在所述测试座主体的若干组测试片组件，其中，每组所述测试片组件均至少包括有第一测试片和第二测试片，所述第一测试片和第二测试片设置在所述测试座主体上，...

本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种测试片，包括：测试部，所述测试部一端的端面上设置有第一抵接部，所述第一抵接部用于抵接电子芯片的引脚；弹性部，与所述测试部的另一端连接，用于缓冲电子芯片的引脚与所述测试片的硬性接触；以及连接...

本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种测试片，包括：第一抵接部、第二抵接部和固定件，其中，第一抵接部与电子芯片的管脚抵接，用于测试所述电子芯片；第二抵接部与PCB板抵接；以及固定件包括固定部和连接部，所述连接部沿竖直方向设置于...

本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种测试片，包括：测试部，所述测试部一端的端面上设置有第一抵接部，所述第一抵接部用于抵接电子芯片的引脚；弹性部，与所述测试部的另一端连接，用于缓冲电子芯片的引脚与所述测试片的硬性接触；以及连接...

本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种测试弹片及测试装置，包括：测试部，与电子芯片的引脚抵接，用于测试所述电子芯片；弹性部，整体为弧形结构，与所述测试部连接，用于缓冲电子芯片的引脚与所述测试弹片的硬性接触，所述弹性部上还至少设...

本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种芯片测试结构，包括：第一测试座以及相对设置于所述第一测试座上的两个测试片，两个所述测试片之间留有供电子芯片的管脚插入的测试通道；以及所述测试片上设置有凸起部，当所述凸起部在受到竖直向下的力...

本实用新型涉及一种芯片测试结构，包括测试座主体、以及若干组测试片组件，每组所述测试片组件均至少包括有第一测试片和第二测试片，所述第一测试片和第二测试片设置在所述测试座主体上，所述第一测试片和第二测试片均分别包括有测试片主体、第一接触端、...

本实用新型涉及电子芯片测试技术领域，特别涉及一种芯片测试座，包括测试座主体、以及均匀设置在所述测试座主体的若干组测试片组件，其中，每组所述测试片组件均至少包括有第一测试片和第二测试片，所述第一测试片和第二测试片沿X轴水平方向并列设置在所...

本发明公开了一种用于测试片连续抓取机械手，涉及测试片领域，包括安装座，所述安装座固定连接连接机构；安装座固定连接换位组件，所述换位组件包括位移机构、连杆机构和换位杆机构；换位杆机构固定连接第一电机；第一电机输出轴固定连接电动推杆；电动推...