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深圳市道格特科技有限公司专利技术
深圳市道格特科技有限公司共有57项专利
探针卡电性参数采集装置制造方法及图纸
本申请公开了一种探针卡电性参数采集装置,探针卡电性参数采集装置包括装置本体和多个测试机构。探针卡放置于装置本体内且位于装置本体的底壁;沿探针卡电性参数采集装置的周向方向上,多个测试机构间隔开地安装于装置本体内,测试机构包括多个第一探针和...
一种上位机用PCB控制盒制造技术
本技术涉及一种上位机用PCB控制盒,用于收纳上位机与受控制设备之间通信的调配线路PCB控制板,所述上位机用PCB控制盒包括盒子底盖和可拆卸连接于所述盒子底盖的盒子上盖,所述PCB控制板容置于所述盒子底盖与所述盒子上盖共同围成的空腔内,所...
探针卡测试设备的测试机构以及探针卡测试设备制造技术
本申请公开了一种探针卡测试设备的测试机构以及探针卡测试设备,探针卡测试设备的测试机构包括壳体、三同轴线和探针组件。壳体包括盖体和座体,盖体盖设于座体的端壁,盖体和座体之间限定出安装空间;三同轴线伸入壳体,三同轴线包括信号线和第一传导层;...
一种探针卡测试调配电路集成装置制造方法及图纸
本技术涉及一种探针卡测试调配电路集成装置,设于上位机与探针卡性能测试机构之间,用于探针卡上的垂直探针或者悬臂探针的多性能测试时的测试信号发送和采集,包括测试矩阵模块、矩阵控制模块和通信模块,所述测试矩阵模块包括若干个继电器电路,上位机将...
一种电导通探针测试盘及探针测试装置制造方法及图纸
本技术涉及一种电导通探针测试盘及探针测试装置,用于垂直探针或者悬臂探针的功能测试,包括探针卡固定装置和测试装置,探针卡固定装置用于固定待测试的探针卡,测试装置设于探针卡固定装置的下方,测试装置包括测试卡盘、电性能测试组件、针压测试组件和...
一种探针卡测试用的紧凑型调节装置制造方法及图纸
本申请涉及一种探针卡测试用的紧凑型调节装置,其包括机架和高度调节机构,高度调节机构包括具有第一斜面的上滑动斜块、具有第二斜面的下滑动斜块和竖直导向件,第一斜面滑接于第二斜面,上滑动斜块沿着竖直方向滑接于竖直导向件;测试仪器,设置于上滑动...
一种多层陶瓷板用粘合剂及其制备方法和应用技术
本申请涉及多层陶瓷板技术领域,本申请公开了一种多层陶瓷板用粘合剂及其制备方法和应用。一种多层陶瓷板用粘合剂,包括如下重量分数的原料:环氧树脂50~70份,橡胶10~20份,植物微晶纤维素10~16份,玻璃微珠7~10份,凹凸棒土4.5~...
防污染的探针卡焊接设备及焊接方法技术
本申请涉及探针卡测试设备制造的技术领域,尤其是涉及一种防污染的探针卡焊接设备及焊接方法,包括支撑架、激光件、焊针,激光件和焊针均安装在支撑架上,激光件照射在焊针的尖端。吹气装置安装在支撑架上,吹气装置的出气口朝向焊针的尖端,并不断的向焊...
探针卡的清洁装置和方法制造方法及图纸
本申请涉及探针卡的清洁装置和方法,用于对所述探针卡的多个探针抛光,涉及探针卡抛光的技术领域,其包括腔体、弹性支撑层和抛光片,所述腔体内设有用于软化所述探针上粘附污物的浸泡液;所述弹性支撑层相连且密封于所述腔体的底部;所述抛光片设于所述弹...
电弧抑制型探针卡制造技术
本申请涉及一种电弧抑制型探针卡,涉及探针卡的技术领域,电弧抑制型探针卡包括可动气环、气环底座、第一气板,可动气环包括圆环部和外伸部,圆环部的外环与外伸部固定连接,外伸部上设有第一销孔;气环底座包括底座板和限位扣,限位扣均匀设于底座板外围...
一种垂直针双向上下料研磨加工设备制造技术
本技术涉及一种垂直针双向上下料研磨加工设备,上下料装置和研磨装置,所述研磨装置上方设有研磨轨道,所述上下料装置包括第一上下料装置和第二上下料装置,所述第一上下料装置和所述第二上下料装置分别设于所述研磨轨道两侧,并以所述研磨装置和所述研磨...
一种垂直探针快速测量方法技术
本发明涉及一种垂直探针快速测量方法,所述垂直探针包括针尖段、圆弧段、针头段,三段连成一体。使用方格阵列和3D测试器对垂直探针进行全数测量,利用3D测试器的直角坐标系测量垂直探针在3D测试器的图型坐标,3D测试器通过测量垂直探针图形相关部...
一种探针卡成型设备制造技术
本发明涉及一种探针卡成型设备,包括具有工作平台的机架,探针卡成型设备还包括供料装置、引料装置和冲料装置,供料装置、引料装置和冲料装置依次设置于工作平台的相邻位置,冲料装置包括用于对探针料进行冲压成型并裁切为成品探针卡的探针卡冲裁模具和向...
一种探针料夹针器制造技术
本发明涉及一种探针料夹针器,用于对探针料全自动加工时夹住探针料,探针料夹针器包括夹针外壳、压紧轴、夹针压簧、夹针杠杆、杠杆销轴和复位簧。夹针外壳一端具有夹针头,夹针杠杆通过杠杆销轴与夹针外壳旋转铰链连接,夹针外壳远离夹针槽的另一端设有轴...
一种全自动探针成型设备制造技术
本发明涉及一种全自动探针成型设备,用于对探针进行全自动化生产,其包括机架
一种探针卡多性能全流程自动化测试方法技术
本发明公开了一种探针卡多性能全流程自动化测试方法
一种探针卡多性能测试通用设备制造技术
本发明涉及一种探针卡多性能测试通用设备,其包括机架和高度调节机构,高度调节机构包括具有第一斜面的上滑动斜块
一种探针性能测试系统及其测试方法技术方案
本发明公开了一种探针性能测试系统及其测试方法,所述测试系统包括探针卡模组
一种传输损耗低的宽带射频探针制造技术
本实用新型涉及一种传输损耗低的宽带射频探针,包括外壳、装于外壳中的探针,所述探针有多块呈片状,所述探针包括探针尖部、探针体部和探针尾部,所述探针尖部外露用于探测,所述探针体部及所述探针尾部装于所述外壳中,至少一块所述探针体部及所述探针尾...
一种垂直针研磨加工设备制造技术
本发明公开了一种垂直针研磨加工设备,包括供料装置、抓握装置和研磨装置,所述抓握装置设于所述研磨装置上方,所述供料装置设于所述抓握装置的一侧;所述垂直针吞吐装置用于垂直针上下料,所述上料回收机械手装置将分离出来的待加工垂直针传送至所述抓握...
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