本发明涉及一种评测集成电路的方法、系统、装置及储存介质。其中，所述方法包括：获取待评估集成电路的电路拓扑结构和工艺参数；基于所述电路拓扑结构，构建集成电路的等效电路模型；依据当前的工艺参数以及生产环境因素数据，生成多组预测的工艺参数波动...

本技术涉及晶体管技术领域，公开了一种晶体管防护结构，包括安装块，所述安装块的内部螺纹连接有螺纹杆，所述螺纹杆的外部活动连接有两个卡块，所述卡块的底端固定连接有固定块，所述固定块的内部固定连接有限位块，所述固定块的顶端左右两侧固定连接有套...