本技术涉及一种PCB板测试支架，属于PCB板测试技术领域。包括单头铜柱、测试架支柱和第一测试架横梁；单头铜柱一端设置有螺纹，用于螺纹连接在待测试PCB板上的螺纹孔处；测试架支柱底端设置有与单头铜柱配合的预留槽，用于将测试架支柱滑动套接在...

本发明涉及一种测试机时钟管理模块参数设置方法及装置，属于芯片测试技术领域。在可编程计数器系数和小数分频器系数取值范围内分别进行取值，基于每次取值计算得到实际输出时钟频率集合；在每个时钟输出端分频系数取值范围内进行取值，基于每次取值计算得...

本技术涉及一种PCI挡板，包括：挡板主体，所述挡板主体安装在电路板上，所述挡板主体上设有第一开口；固定组件，所述固定组件安装在所述挡板主体靠近电路板的一侧，所述固定组件上设有至少一个第二开口；所述第二开口的位置对应所述第一开口设置；固定...

本技术涉及一种便捷可操作性机箱，包括：箱体；所述箱体包括安装在所述箱体侧面的面板；所述箱体上至少一侧的所述面板与所述箱体铰接；所述箱体上至少一侧的所述面板可拆卸的安装在所述箱体上；所述箱体上至少一侧的所述面板，处于所述箱体内部的一侧，向...

本技术涉及一种防热插拔装置，包括：底座，所述底座安装在机器上；压杆，所述压杆包括转动端和固定端；所述转动端安装在所述底座上，并与所述底座转动连接；所述固定端设置有第一螺孔；所述第一螺孔与机器螺丝连接；本技术一端由螺丝固定，另一端嵌入进机...

本发明涉及一种集成电路测试系统识别线束或线缆的方法及系统，属于芯片测试技术领域。包括在测试电路板的每个测试位上分别设置阻值不同的电阻，测试机发送预设激励信号至各个测试位上的电阻，并接收经过各个电阻返回的响应信号；将各个响应信号分别与第一...

本发明涉及一种基于测试机的指令执行方法，从带有指令格式的测试计划中选取下行指令信息，并将其传入指令执行机的数据接口；进行参数初始化；选中所用到的测试组资源，使得DUT的每个管脚状态达到需求状态；设置测试线路上的驱动类型、钳位值类型，测量...

本发明涉及一种基于ATE测试机的内部电阻校准方法，包括：将ATE测试机n条测试通道全部进行短接；获取各测试通道的内阻值并存储，内阻值包括测试通道接地开关处存在的导通电阻测试通道和被测器件连接所用线缆的电阻；将被测器件的两端分别接于测试机...

本发明涉及测试机时钟信号技术领域，公开一种实现多通道自由运行时钟信号的测试机，包括：多个可选的不同的参考时钟源，包括数量相同的外部参考时钟源和内部参考时钟源；多个测试通道，每个测试通道可独立配置为输入或输出，配置为输入时作为外部参考时钟...

本申请涉及半导体集成电路技术领域，具体提供了一种幅值放大并校准组件及方法，组件包括：子卡、目标载具板和混合信号模块，其中：所述子卡通过连接器与所述目标载具板连接；所述目标载具板通过测试机的接口与所述测试机连接；所述混合信号模块设于所述测...

本发明涉及一种

本申请提供了一种基于

本发明涉及一种芯片测试方法和系统，方法包括：提供一基准频率，基于基准频率构建一加权频率差值模型；根据芯片测试的工作温度和工作电压，通过加权频率差值模型计算加权频率差值，并根据加权频率差值划分芯片等级，其中工作温度为实测温度经过温度补偿后...

本实用新型涉及一种测试机，包括主控背板和至少一个插卡，插卡包括驱动电路板和至少两个通道扩展接口电路板，驱动电路板具有一第一边，第一边被配置为能够插接于主控背板上，与第一边不相邻的边为第二边，至少两个通道扩展接口电路板沿着驱动电路板的厚度...

本发明公开了一种开短路测试机的IIC接口扩展电路及开短路测试机，其IIC接口电路包括：模拟开关S1、模拟开关S2、模拟开关S3、模拟开关S4、接地使能信号ENB和高电平输入端口，接地使能信号ENA、模拟开关S2、接地使能信号ENB、目标...

本发明涉及一种地址访问方法、装置及系统，该方法包括读操作和写操作，读操作包括将设备端内部所有模块的同类寄存器映射到同一地址段上；在接收到针对该地址进行访问的实读指令后，通过block read访问整段地址空间，获取所有模块的同类寄存器的...