本技术提供一种半导体器件高温真空测试装置。所述一种半导体器件高温真空测试装置，包括箱体，所述箱体的顶部活动套接有顶盖，所述顶盖的侧面固定连接有定位块，所述定位块的内部螺纹套接有螺纹杆。本技术提供的一种半导体器件高温真空测试装置具有通过设...

本技术公开了一种半导体用的冷却装置，涉及半导体生产技术领域，包括装置主体，所述装置主体的内部活动连接有滤网，所述装置主体的内部设置有安装机构，所述安装机构包括有安装块，所述安装块的一侧固定连接在滤网的外部，所述装置主体的内壁开设有安装槽...