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纳诺多普科技有限责任公司专利技术
纳诺多普科技有限责任公司共有3项专利
双采样模式的分光光度计制造技术
介绍了有选择地测量在器皿(72)中的样品或保持于两个相对的基座(A’、A”)之间的表面张力模式下的样品(5、5’)的双模式方法和设备。在任一种配置下,上述模式还包括来自源系统、通过小容量或大容量样品、到达基于分光计的系统的光学路径。对于...
用于最佳吸光度测量的光程长度传感器和方法技术
描述了一种设备,其中光纤安装在光纤保持器内,光纤保持器包括线性致动器的非旋转轴。可以使光纤保持器保持固定以限制光纤保持器并因此限制安装在其中的光纤,以免在线性制动器的操作过程中旋转,从而使线性行进具有最小旋转效果,并且使光纤在行进过程中...
对于由表面张力保持的多个样本进行光学测量的仪器制造技术
本发明是一种用来对由相对光纤之间的表面张力容纳的众多纳滴样本进行多通道分光镜测量的配装,其中横跨接收、检测纤维被间隔的线性阵列来扫描一个单独的纤维。
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