本技术公开了一种半导体检测定位结构，本技术涉及半导体检测技术领域，包括横移机构，所述横移机构上设有安装座，所述安装座上设有安装机构，所述安装机构包括固定座，所述固定座上固定连接有导向座，所述导向座上开设有第一滑槽，所述第一滑槽内部转动连...

本发明公开了一种IC封装样品内非导电胶失效确定方法及系统。该方法包括：确认获取IC封装样品；其中，所述IC封装样品包括IC芯片、非导电胶及基板；所述非导电胶位于所述IC芯片与所述基板之间；所述IC芯片包括IC芯片本体及所述IC芯片本体周...

本发明提供了一种可区分增强型和耗尽型MOS晶体管的染色溶液及其应用，所述染色溶液包括预处理液和染色液；所述预处理液以重量份数计包括碱3.5

本实用新型涉及半导体检测夹具技术领域，尤其为半导体参数检测夹具，包括夹具工件台，夹具工件台上设有用于对半导体参数检测进行夹固的夹固组件，夹具工件台四周底部均连接有用于进行支撑的支撑机构,本实用新型通过设置限定板对半导体板一端进行限定，当...