本发明提供一种激光加工装置，包括激光源、偏振分光器、第一反射镜、第二反射镜、偏振合光器及聚焦元件。激光源用以产生激光，偏振分光器用以将激光分为具有不同偏振状态的第一光束与第二光束。第一反射镜用以反射第一光束，第二反射镜用以反射第二光束。...

提供一种显示面板及其制造方法。显示面板包含载板，载板具有图案化区域，图案化区域位于载板的表面并对应于多个子像素结构。显示面板也包含封装材料层，封装材料层设置于图案化区域的部分之上。显示面板还包含第一色彩转换层，第一色彩转换层设置于在部分...

本发明提供一种微型发光元件以及微型发光元件结构。微型发光元件包括磊晶结构、第一电极、第二电极、第一接触层以及扩散结构。磊晶结构包括依序堆叠的第一型半导体层、主动层以及第二型半导体层。第二型半导体层具有相对远离第一型半导体层的外表面。第一...

本发明提供一种加工与检测装置与一种加工与检测方法，加工与检测装置用以对加工物件进行加工与检测。加工与检测装置包括承载平台、激光单元、波长测量单元及计算单元。承载平台用以承载加工物件，加工物件包括基板及其上的多个微型发光二极管。激光单元用...

本发明提供一种多层显示模块，包括第一显示面板及第二显示面板。第一显示面板的长边尺寸为D1，第一显示面板具有第一像素分辨率P1。第二显示面板位于第一显示面板一侧且重叠第一显示面板。第一显示面板与第二显示面板具有间距d。第二显示面板的长边尺...

本发明提供一种多层显示模块，包括第一显示面板、第二显示面板、驱动装置及图像合成控制单元。第二显示面板位于第一显示面板一侧且重叠第一显示面板。第一显示面板与第二显示面板具有间距。驱动装置用以同步提供图像信号予第一显示面板以及第二显示面板。...

本发明提供一种多层显示模块，包括第一显示面板及第二显示面板。第二显示面板位于第一显示面板一侧且重叠第一显示面板。第一显示面板与第二显示面板具有间距。第二显示面板的透光率为T2，第一显示面板亮度为L1，第二显示面板亮度为L2，多层显示模块...

本发明提供一种外延结构，包括第一型半导体层、活性层、第二型半导体层及晶格失配层。第一型半导体层包含磷化铝镓铟材料，活性层设置于第一型半导体层的一侧。第二型半导体层设置于活性层远离第一型半导体层的一侧，且包含磷化铝镓铟材料。晶格失配层包含...

本发明提供一种微型发光二极管显示面板包括第一基板、第二基板、多个微型发光二极管、波长转换层、遮光图案层、滤光层以及空气间隙。这些微型发光二极管设置于第一基板上，且分别位于多个子像素区内。这些微型发光二极管适于发出光束。波长转换层重叠设置...

本技术提供一种封装结构包括基板、隔离结构层、平坦层与复合层结构。隔离结构层设置在基板上并定义出多个子像素区。平坦层设置在基板上，且具有围绕并覆盖隔离结构层的外围部分。外围部分的厚度随着接近隔离结构层而增加。复合层结构连接基板并覆盖平坦层...

本发明提供一种微型发光二极管面板，其包括电路基板、多个晶体管元件和多个微型发光二极管。电路基板包括多条信号线、多个接合垫与多个薄膜晶体管。这些接合垫延伸自这些信号线的至少一部分。这些晶体管元件电性接合至这些接合垫的一部分，并且与这些薄膜...

本公开提供一种微型发光芯片结构包含第一型半导体层、发光层及第二型半导体层。第二型半导体层具有周侧表面及端面。微型发光芯片结构也包含至少覆盖周侧表面及端面的第一绝缘层、反射层及第二绝缘层，反射层设置于第一绝缘层之上，第二绝缘层设置于反射层...

本发明公开一种微型发光二极管显示设备与其制造方法。微型发光二极管显示设备包括线路基板、像素结构层、支撑结构、连接层以及保护层。线路基板具有上表面。像素结构层设置于线路基板的上表面，像素结构层具有彼此间隔配置的多个微型发光二极管单元，该些...

本发明提供一种适于检测多个微型发光元件的微型发光元件检测设备，其包括载台、导光模块以及感测模块。载台配置用以承载这些微型发光元件。导光模块设置在各个微型发光元件发出的光束的传递路径上，且包括多条光纤。每条光纤具有彼此远离的收光面的出光面...

本发明提供一种微型半导体元件以及微型半导体结构。微型半导体元件包括磊晶结构以及光学层。光学层配置于磊晶结构上。光学层为多层膜结构且包括第一膜层、第二膜层以及配置于第一膜层与第二膜层之间的第三膜层。第一膜层的折射率与第二膜层的折射率皆大于...

本发明提供一种像素电路及显示面板。像素电路包括电流产生器、开关以及时间控制器。像素电路被配置于显示面板中。电流产生器提供驱动电流，其中电流产生器根据脉波振幅调变机制来控制驱动电流。开关与电流产生器以及发光元件串联耦接。开关根据控制信号以...

本发明提供一种晶片缺陷检测设备包括载台、光源模块、分光镜及滤光件。载台检测待测样品。光源模块包括照明单元及半透镜。照明单元发出检测光线。反射面能反射检测光线至待测样品，以使待测样品经反射检测光线的反射光线穿过半透镜而被分光镜分出多道分光...

本发明提供一种晶圆缺陷检测设备，适于检测包括两检测特征的待测样品。晶圆缺陷检测设备包括载台、光源模块及图像传感器。载台适于承载待测样品。光源模块用以输出检测光线至载台上的待测样品并反射此反射光线，检测光线包括第一光线及第二光线的频谱，第...

本发明提供一种微型元件结构以及显示装置。微型元件结构包括本体、两个电极、两个焊料图案以及限制结构。两个电极设置在本体的一侧上。两个焊料图案分别设置在两个电极上。限制结构相对本体凸出，其中限制结构围绕一个电极及位于其上的焊料图案，且限制结...

本发明提供一种外延结构及外延结构形成方法，外延结构包括第一外延层、第二外延层及界面处理层。第一外延层为欧姆接触层。第二外延层配置于第一外延层上，且为含磷化合物层，其中第二外延层的材质相异于第一外延层的材质。界面处理层接触第一外延层与第二...