本发明涉及一种用以校准用于成分分析的多个结构相同的光谱仪的方法。首先提供多个样品并利用参考测量法测量各个样品中的成分的浓度。利用从结构相同的光谱仪中示范性地选出的光谱仪测量各个样品的光谱，以便确定临时回归模型。从测量到的光谱和/或由测量...

本发明涉及一种用于测量漫反射光和镜面反射光的测量设施。测量设施包括用于产生测量光的测量光源(20)、用于接收测量光的光学接收器(23)以及用于反射从测量光源射出的测量光的第一镜(21)。测量设施还包括用于将漫反射来的测量光反射向光学接收...

本发明涉及用于产生具有均匀的空间照度分布的测量光的测量光源。测量光源包括块状的块体(01)，在块体中构造有照明腔(11)、光成形腔(12)和光射出腔(13)，它们分别构造为块体(01)中的空腔并且具有漫反射的内部面。照明腔(11)通入光...

本发明涉及光谱仪系统和用于测试光谱仪系统的方法。光谱仪系统包括设有窗的壳体，在壳体中布置有照明源、光谱仪和用于内部重新校准的标准件。在使用标准件的情况下拾取参考光谱，在该参考光谱中识别在壳体中存在的填充气体的独特的吸收带，其中，分别测量...

本实用新型涉及测量光源以及用于检测样本的绝对反射光谱的测量装置。用于产生具有均匀的空间照明强度分布的测量光的测量光源包括块状块体，在块体中构造有照明腔、光成形腔和光射出腔，它们分别构造为块体中的空腔并且具有漫反射的内部面。照明腔通入光成...

本实用新型涉及一种测量光源和用于检测反射光谱的测量系统。用于产生具有均匀的空间照度分布的测量光的测量光源包括空心体(01)，其具有漫反射的内面。在空心体中布置有凹面镜形的凹状照明腔(04)、管状的光成形腔(06)和凹面镜形的凹状光射出腔...

本发明涉及一种测量光源和用于检测反射光谱的测量系统。用于产生具有均匀的空间照度分布的测量光的测量光源包括空心体(01)，其具有漫反射的内面。在空心体中布置有凹面镜形的凹状照明腔(04)、管状的光成形腔(06)和凹面镜形的凹状光射出腔(0...