本实用新型公开了一种芯片生产用测试装置，包括外壳，所述外壳左侧设置有输送带，且外壳右侧设置有出料带，并且输送带内部设置有芯片槽，所述出料带一侧设置有废料板，且废料板下方设置有线轮，所述外壳内部设置有丝杆，且丝杆外侧设置有移动块，所述移动...