本技术提出内存芯片测试组件及测试模块，属于内存测试装置技术领域，具体包括DUT保持架、设在DUT保持架一侧的金属压头和设在另一侧的测试主板；金属压头包括凸起部和台阶，凸起部内设置有发热单元，台阶上设置有第一触点组，发热单元与第一触点组电...

本技术公开了一种用于插拔PCB板卡的结构，包括第一PCB板卡，第一PCB板卡顶部安装有第一连接器，还包括垂直设在第一PCB板卡上方的第二PCB板卡，第二PCB板卡前侧设有与第一连接器相配合的第二连接器，第二PCB板卡前侧上端左右两侧均安...

本技术属于内存条测试设备技术领域，具体涉及一种用于内存测试机拆分PCB的拆板装置，包括拆板件和转动销；所述内存测试机包括矩形阵列分布的多个测试模块；每个测试模块均包括上PCB板、下PCB板和隔离框；上PCB板与下PCB板相互平行，且通过...

本发明公开了芯片测试校准的温度环境构建方法及系统，涉及芯片测试处理技术领域，包括，S1、测试内存条统计，S2、芯片先验测试数据预处理，S3、测试环境构建温度区间获取，S4、温度环境协同调节构建，本发明通过对待测内存条进行先验数据地针对性...

本技术属于内存条及内存芯片测试技术领域，公开了一种用于芯片测试的两段式双行程滑盖治具，包括安装座，安装座的顶面和/或底面均设置有沿其长度方向依次排布的芯片安装部、压片部和滑盖部，芯片安装部设置有在安装座一端开设的两个第一芯片安装位和两个...

本技术属于内存芯片测试技术领域，公开了一种芯片测试机散热系统，包括散热基座、逆重力热管和散热鳍片，散热基座设置于测试主板的CPU上端，测试主板的DUT测试位间隔设置于散热基座的一侧，散热基座的两侧通过紧固螺丝与测试主板和支撑于测试主板下...

本申请公开了信号测试电路、测试芯片及测试装置，涉及装置信号测试技术领域，公开的信号测试电路，包括：多个信号反馈端接入待测装置，以接入待测装置输出的数据信号；多个比较器，其中一个比较器的正相输入端用于接入一信号反馈端，反相输入端用于接入一...

本发明提出一种内存条检测方法及其检测设备，检测设备包括热插拔机构，方法包括：在初始化时，对内存条进行内存训练，以获得内存条的训练信息；在根据所述内存条的训练信息确定存在训练失败的内存条时，并获取该内存条的位置；根据训练失败的内存条位置，...

本发明提出了一种芯片测试系统及其测试方法，测试系统包括：测试机、开关电路与偏置电源。本发明通过在待测芯片的对地参考端与测试系统的电源地之间引入偏置电源，提高待测芯片的对地参考端相对电源地的电位，以使测试机的接地端与待测芯片的对地参考端之...

本发明提供了一种芯片的加速老化和质量检测方法，其中加速老化方法包括以下步骤：S1：采用第一超声波对待老化的芯片进行清洗；S2：在预设温度下，采用预设压力的第二超声波对所述芯片施加压力，促进所述芯片的老化。本发明通过超声波的压力对芯片进行...

本发明属于内存测试技术领域，公开了一种内存多级筛选设备及方法，所述设备包括：上料区、测试区、缓存区和下料区；上料区用于：为被测器件提供上料的工位，以及将被测器件搬运至缓存区；测试区用于：将缓存区中的被测器件搬运至测试区，并对搬运至测试区...

本发明公开了基于多工位测试版的芯片自适应测试系统及装置，涉及芯片测试技术领域。该方法包括以下步骤：通过多工位测试版对DRAM芯片进行测试；对多工位测试版对DRAM芯片进行测试的过程进行监控；通过监控获取芯片测试参数数据；根据芯片测试参数...

本发明公开了一种自动化内存条测试系统，包括环形设置的数个机柜，每一个机柜内均设置有测试设备，环形设置的数个机柜的中心处设置有升降旋转装置，升降旋转装置上设置有测试设备支撑平台和料盘支撑平台，测试设备支撑平台设置有内存条搬运设备，升降旋转...

本发明公开了一种基于互联网远程处理故障内存条的方法，涉及存储技术领域。该方法包括以下步骤：客户端获取内存条参数数据；客户端通过互联网将内存条参数数据发送至服务器端；服务器端根据内存条参数数据分析内存条故障情况；服务器端将内存条故障情况通...

本申请提出了增益电路的偏移校准方法、校准装置及高速DRAM接口，涉及高速通信技术领域，该增益电路的偏移校准方法包括：获取信号输入电路和参考电路输入的原始信号和误差信号；通过DFE加法器将原始信号和误差信号相加，并输出至采样器进行采样，以...

本申请提出了增益电路及高速DRAM接口，涉及测试技术领域，该增益电路包括：信号输入电路接入待增益信号；参考电路的输入端接入参考电压信号，参考电路用于设定增益的基准电压；调节电路分别与信号输入电路和参考电路电连接，调节电路用于动态调整信号...

本申请提出了信号偏移校准方法、校准装置及高速DRAM接口，涉及高速通信技术领域，该信号偏移校准方法包括：获取原始信号和误差信号；通过DFE加法器将原始信号和误差信号相加，并输出至采样器进行采样，以输出对应的采样结果；通过偏移控制逻辑器确...

本发明涉及电子数字数据处理技术领域，具体为一种内存条初始化失败的处理方法，该方法包括：判断内存条是否读取失败，若检测到错误内存信号则表明内存条读取失败，并将内存条标记为待测内存条；收集待测内存条的运行状态数据，包括内存条性能数据和老化状...

本发明提供一种芯片侧推测试装置及方法，其中的装置包括：包括测试探针及设置在所述测试探针一侧的弹性支撑组件；其中，所述测试探针包括探针臂以及设置在所述探针臂端部的接触端，所述接触端与待检测芯片上的金属凸点的支撑柱接触导通；所述弹性支撑组件...

本发明公开了基于LED的内存条安置检测方法和装置，涉及电子数字数据处理技术领域。首先对待检测内存条的安装状态信息进行监测分析，得到待检测内存条的安装状态表征值，有助于减少由于安装不当导致的测试偏差，从而提高了内存条测试的结果准确性，然后...