本发明提供一种芯片测试装置及方法，其中的装置包括：探针支架、驱动所述探针支架运动的驱动装置，以及设置在所述探针支架上的测试探针；其中，待检测芯片的金属凸点包括设置在芯片保护层上的支撑柱以及位于所述支撑柱端部的焊料帽；所述测试探针为具有一...

本发明公开了一种内存条测试用上下料机，包括机架、料车、搬运装置、内存条抓取组件和检测组件；机架内设置料车、搬运装置、检测组件和内存条抓取组件，料车上设置有装有内存条的载盘，搬运装置用于将载盘从料车内抽出，内存条抓取组件用于抓取内存条至检...

本发明提供一种CPU跳跃异常内存条进行内存条读取的开机方法、系统，当有内存条插入，打开基板控制器上所插入的插入内存条的数据通道，使基板控制器获取所述插入内存条进行信息读取以尝试获取SPD信息；若无法获取所述插入内存条的SPD信息，则判定...

本发明提供一种基于FPGA平台的DDR控制器测试系统及方法，其中的系统包括：上位机、设置在FPGA平台上的待验证的DDR控制器、DDR PHY和DDR颗粒；其中，所述上位机通过预设接口与嵌入式处理器连接，所述嵌入式处理器与所述DDR控制...

本发明公开了一种量化测试芯片工作噪声的方法、装置和设备，包括对被测芯片进行模拟应用操作，作为测试矢量，利用持续的测试矢量使得所述被测芯片工作并产生耗电，所述被测芯片工作过程中根据不同的实时状态产生耗电量波动；利用测试仪对被测芯片进行持续...

本发明属于内存测试技术领域，公开了一种内存条插拔测试的插入状态检测模块及方法，所述插入状态检测模块集成在内存条插拔测试主板上，所述内存条插拔测试主板上设有内存插槽，所述插入状态检测模块包括：两组检测触点组，两组检测触点组均布置在内存插槽...

本技术公开了一种可变间距内存条搬运手爪及内存条测试系统，所述可变间距内存条搬运手包括基座、运动模块和夹爪；基座具有基础的形状和厚度，运动模块设置在基座上并连接夹爪，运动模块用于驱动夹爪运动；夹爪设有若干个并设置在运动模块上，夹爪包括主体...

本技术属于内存测试技术领域，其目的在于提供一种用于内存测试的内存条及其内存测试方法。本技术公开了一种用于内存测试的内存条，包括基板和设置在所述基板上的若干内存芯片，所述基板上还设置有连接电路和金手指，所述连接电路的一端分别与若干内存芯片...

本技术属于内存测试技术领域，其目的在于提供一种内存测试主板及其测试方法。本技术中的内存测试主板包括依次电连接的主控单元、控制电路和固定位，所述固定位用于连接被测件，所述固定位上设置有与所述被测件上的TEN引脚对应连接的测试触点。本技术通...

本发明公开了一种DDR芯片测试中的DFI接口信号检测方法、装置及存储介质，涉及信号检测技术领域。该方法包括：获取DDR芯片测试过程中内存控制器的DFI接口输出的DFI接口信号序列并解析出命令；对DFI接口信号序列中的控制命令之间的时间间...

本技术公开了一种热风循环温箱及测试治具，所述热风循环温箱包括温箱本体，温箱本体上设有一端敞口的测试腔，测试腔内设有加热器和均热结构，均热结构能够将加热器的热量均布在测试腔内，以形成测试用的温腔。所述测试治具包括所述的热风循环温箱。所述热...

本技术公开了一种滑盖测试治具及芯片测试系统，所述滑盖测试治具包括安装座、压片和滑盖；安装座上设有芯片放置槽，压片转动设置在安装座上，滑盖滑动设置在安装座上；压片具有两个相对的外表面，其中一者构造为能够插接至芯片放置槽内的第一斜面，另一者...

本技术公开了一种芯片独立控温加热系统、装置及温控加热组件，所述温控加热组件包括PCB转接板、压块和加热片发热体；PCB转接板位于压块上方，PCB转接板的底面上设有用于监测压块的温度的温度传感器；PCB转接板的底面通过加热片引线连接加热片...

本发明公开了一种内存全面测试方法及装置，涉及内存测试技术领域。所述方法是通过对目标内存依次进行基础测试、体制指标测试以及可靠性测试，可以实现对目标内存进行全面无遗漏的测试目的，进而可保障测试结果的准确性，避免出现目标内存被误判为残次品的...

本发明属于内存测试技术领域，其目的在于提供一种内存测试主板及其测试方法。本发明中的内存测试主板包括依次电连接的主控单元、控制电路和固定位，所述固定位用于连接被测件，所述固定位上设置有与所述被测件上的TEN引脚对应连接的测试触点。本发明通...

本技术公开了一种反置内存插槽的内存测试主板及内存测试系统，所述内存测试主板，包括主板和内存插槽，主板具有相对的正面和背面，正面上设有若干个功能模块，背面上设有所述内存插槽。所述内存测试系统包括所述内存测试主板。主板的背面仅有内存插槽，内...

本发明属于内存测试技术领域，其目的在于提供一种用于内存测试的内存条及其内存测试方法。本发明公开了一种用于内存测试的内存条，包括基板和设置在所述基板上的若干内存芯片，所述基板上还设置有连接电路和金手指，所述连接电路的一端分别与若干内存芯片...

本发明属于机电设备控制技术领域，其目的在于提供一种状态参数控制方法、系统、电子设备及介质。本发明通过预判机制提前接入对被测芯片状态参数的控制，可在指定状态参数发生变化前提前介入状态参数调节控制，在被测芯片的状态参数发生变化时可即产生控制...

本发明属于数字信号提取技术领域，其目的在于提供一种数据压缩方法、组件、装置及系统。本发明通过接收原始数据和配置需求信息，并根据所述配置需求信息得到压缩系数；对所述压缩系数进行解析处理，得到所述压缩系数中所有待压缩数据块使能位位置信息；根...

本发明属于DDR测试技术领域，其目的在于提供一种DDR测试系统及方法。本发明基于主控模块通过编码的方式生成DDR测试指令，在对被测DDR进行测试时，可通过指令译码控制模块对所述DDR测试指令进行译码，得到所述DDR测试指令中的所有分测试...