皇虎测试科技深圳有限公司专利技术

皇虎测试科技深圳有限公司共有40项专利

  • 本发明公开了一种量化测试芯片工作噪声的方法、装置和设备,包括对被测芯片进行模拟应用操作,作为测试矢量,利用持续的测试矢量使得所述被测芯片工作并产生耗电,所述被测芯片工作过程中根据不同的实时状态产生耗电量波动;利用测试仪对被测芯片进行持续...
  • 本发明属于内存测试技术领域,公开了一种内存条插拔测试的插入状态检测模块及方法,所述插入状态检测模块集成在内存条插拔测试主板上,所述内存条插拔测试主板上设有内存插槽,所述插入状态检测模块包括:两组检测触点组,两组检测触点组均布置在内存插槽...
  • 本技术公开了一种可变间距内存条搬运手爪及内存条测试系统,所述可变间距内存条搬运手包括基座、运动模块和夹爪;基座具有基础的形状和厚度,运动模块设置在基座上并连接夹爪,运动模块用于驱动夹爪运动;夹爪设有若干个并设置在运动模块上,夹爪包括主体...
  • 本技术属于内存测试技术领域,其目的在于提供一种用于内存测试的内存条及其内存测试方法。本技术公开了一种用于内存测试的内存条,包括基板和设置在所述基板上的若干内存芯片,所述基板上还设置有连接电路和金手指,所述连接电路的一端分别与若干内存芯片...
  • 本技术属于内存测试技术领域,其目的在于提供一种内存测试主板及其测试方法。本技术中的内存测试主板包括依次电连接的主控单元、控制电路和固定位,所述固定位用于连接被测件,所述固定位上设置有与所述被测件上的TEN引脚对应连接的测试触点。本技术通...
  • 本发明公开了一种DDR芯片测试中的DFI接口信号检测方法、装置及存储介质,涉及信号检测技术领域。该方法包括:获取DDR芯片测试过程中内存控制器的DFI接口输出的DFI接口信号序列并解析出命令;对DFI接口信号序列中的控制命令之间的时间间...
  • 本技术公开了一种热风循环温箱及测试治具,所述热风循环温箱包括温箱本体,温箱本体上设有一端敞口的测试腔,测试腔内设有加热器和均热结构,均热结构能够将加热器的热量均布在测试腔内,以形成测试用的温腔。所述测试治具包括所述的热风循环温箱。所述热...
  • 本技术公开了一种滑盖测试治具及芯片测试系统,所述滑盖测试治具包括安装座、压片和滑盖;安装座上设有芯片放置槽,压片转动设置在安装座上,滑盖滑动设置在安装座上;压片具有两个相对的外表面,其中一者构造为能够插接至芯片放置槽内的第一斜面,另一者...
  • 本技术公开了一种芯片独立控温加热系统、装置及温控加热组件,所述温控加热组件包括PCB转接板、压块和加热片发热体;PCB转接板位于压块上方,PCB转接板的底面上设有用于监测压块的温度的温度传感器;PCB转接板的底面通过加热片引线连接加热片...
  • 本发明公开了一种内存全面测试方法及装置,涉及内存测试技术领域。所述方法是通过对目标内存依次进行基础测试、体制指标测试以及可靠性测试,可以实现对目标内存进行全面无遗漏的测试目的,进而可保障测试结果的准确性,避免出现目标内存被误判为残次品的...
  • 本发明属于内存测试技术领域,其目的在于提供一种内存测试主板及其测试方法。本发明中的内存测试主板包括依次电连接的主控单元、控制电路和固定位,所述固定位用于连接被测件,所述固定位上设置有与所述被测件上的TEN引脚对应连接的测试触点。本发明通...
  • 本技术公开了一种反置内存插槽的内存测试主板及内存测试系统,所述内存测试主板,包括主板和内存插槽,主板具有相对的正面和背面,正面上设有若干个功能模块,背面上设有所述内存插槽。所述内存测试系统包括所述内存测试主板。主板的背面仅有内存插槽,内...
  • 本发明属于内存测试技术领域,其目的在于提供一种用于内存测试的内存条及其内存测试方法。本发明公开了一种用于内存测试的内存条,包括基板和设置在所述基板上的若干内存芯片,所述基板上还设置有连接电路和金手指,所述连接电路的一端分别与若干内存芯片...
  • 本发明属于机电设备控制技术领域,其目的在于提供一种状态参数控制方法、系统、电子设备及介质。本发明通过预判机制提前接入对被测芯片状态参数的控制,可在指定状态参数发生变化前提前介入状态参数调节控制,在被测芯片的状态参数发生变化时可即产生控制...
  • 本发明属于数字信号提取技术领域,其目的在于提供一种数据压缩方法、组件、装置及系统。本发明通过接收原始数据和配置需求信息,并根据所述配置需求信息得到压缩系数;对所述压缩系数进行解析处理,得到所述压缩系数中所有待压缩数据块使能位位置信息;根...
  • 本发明属于DDR测试技术领域,其目的在于提供一种DDR测试系统及方法。本发明基于主控模块通过编码的方式生成DDR测试指令,在对被测DDR进行测试时,可通过指令译码控制模块对所述DDR测试指令进行译码,得到所述DDR测试指令中的所有分测试...
  • 本实用新型公开了一种内存插拔检测装置,所述内存插拔检测装置包括插槽、夹爪和检测单元,其中,夹爪设有两个并分别位于插槽的两端,夹爪具有相对的内侧和外侧,夹爪的内侧设有用于夹持内存条的夹持槽,夹爪的外侧连接有驱动设备;检测单元设有两个并分别...
  • 本实用新型公开了一种内存插拔检测装置,所述内存插拔检测装置包括插槽、夹爪和检测单元,其中,夹爪设有两个并分别位于插槽的两端,夹爪具有相对的内侧和外侧,夹爪的内侧设有用于夹持内存条的夹持槽,夹爪的外侧连接有驱动设备;检测单元设有两个并分别...
  • 本实用新型公开了一种芯片测试用控温及散热系统,所述芯片测试用控温及散热系统包括介质层、半导体制冷片和散热件;介质层包括第一介质层和第二介质层;半导体制冷片一端通过第一介质层连接测试板,半导体制冷片另一端通过第二介质层连接散热件;测试板上...
  • 本实用新型公开了一种浮动夹爪及用于内存条测试的测试系统,所述浮动夹爪,包括外爪和内爪,内爪一侧活动设置在外爪上,内爪另一侧延伸至外爪外并设有夹持槽,夹持槽的表面构造为抛光面,外爪和内爪之间设有弹性缓冲结构。所述测试系统包括机械手和所述的...