本发明公开了一种量化测试芯片工作噪声的方法、装置和设备，包括对被测芯片进行模拟应用操作，作为测试矢量，利用持续的测试矢量使得所述被测芯片工作并产生耗电，所述被测芯片工作过程中根据不同的实时状态产生耗电量波动；利用测试仪对被测芯片进行持续...

本发明属于内存测试技术领域，公开了一种内存条插拔测试的插入状态检测模块及方法，所述插入状态检测模块集成在内存条插拔测试主板上，所述内存条插拔测试主板上设有内存插槽，所述插入状态检测模块包括：两组检测触点组，两组检测触点组均布置在内存插槽...

本技术公开了一种可变间距内存条搬运手爪及内存条测试系统，所述可变间距内存条搬运手包括基座、运动模块和夹爪；基座具有基础的形状和厚度，运动模块设置在基座上并连接夹爪，运动模块用于驱动夹爪运动；夹爪设有若干个并设置在运动模块上，夹爪包括主体...

本技术属于内存测试技术领域，其目的在于提供一种用于内存测试的内存条及其内存测试方法。本技术公开了一种用于内存测试的内存条，包括基板和设置在所述基板上的若干内存芯片，所述基板上还设置有连接电路和金手指，所述连接电路的一端分别与若干内存芯片...

本技术属于内存测试技术领域，其目的在于提供一种内存测试主板及其测试方法。本技术中的内存测试主板包括依次电连接的主控单元、控制电路和固定位，所述固定位用于连接被测件，所述固定位上设置有与所述被测件上的TEN引脚对应连接的测试触点。本技术通...

本发明公开了一种DDR芯片测试中的DFI接口信号检测方法、装置及存储介质，涉及信号检测技术领域。该方法包括：获取DDR芯片测试过程中内存控制器的DFI接口输出的DFI接口信号序列并解析出命令；对DFI接口信号序列中的控制命令之间的时间间...

本技术公开了一种热风循环温箱及测试治具，所述热风循环温箱包括温箱本体，温箱本体上设有一端敞口的测试腔，测试腔内设有加热器和均热结构，均热结构能够将加热器的热量均布在测试腔内，以形成测试用的温腔。所述测试治具包括所述的热风循环温箱。所述热...

本技术公开了一种滑盖测试治具及芯片测试系统，所述滑盖测试治具包括安装座、压片和滑盖；安装座上设有芯片放置槽，压片转动设置在安装座上，滑盖滑动设置在安装座上；压片具有两个相对的外表面，其中一者构造为能够插接至芯片放置槽内的第一斜面，另一者...

本技术公开了一种芯片独立控温加热系统、装置及温控加热组件，所述温控加热组件包括PCB转接板、压块和加热片发热体；PCB转接板位于压块上方，PCB转接板的底面上设有用于监测压块的温度的温度传感器；PCB转接板的底面通过加热片引线连接加热片...

本发明公开了一种内存全面测试方法及装置，涉及内存测试技术领域。所述方法是通过对目标内存依次进行基础测试、体制指标测试以及可靠性测试，可以实现对目标内存进行全面无遗漏的测试目的，进而可保障测试结果的准确性，避免出现目标内存被误判为残次品的...

本发明属于内存测试技术领域，其目的在于提供一种内存测试主板及其测试方法。本发明中的内存测试主板包括依次电连接的主控单元、控制电路和固定位，所述固定位用于连接被测件，所述固定位上设置有与所述被测件上的TEN引脚对应连接的测试触点。本发明通...

本技术公开了一种反置内存插槽的内存测试主板及内存测试系统，所述内存测试主板，包括主板和内存插槽，主板具有相对的正面和背面，正面上设有若干个功能模块，背面上设有所述内存插槽。所述内存测试系统包括所述内存测试主板。主板的背面仅有内存插槽，内...

本发明属于内存测试技术领域，其目的在于提供一种用于内存测试的内存条及其内存测试方法。本发明公开了一种用于内存测试的内存条，包括基板和设置在所述基板上的若干内存芯片，所述基板上还设置有连接电路和金手指，所述连接电路的一端分别与若干内存芯片...

本发明属于机电设备控制技术领域，其目的在于提供一种状态参数控制方法、系统、电子设备及介质。本发明通过预判机制提前接入对被测芯片状态参数的控制，可在指定状态参数发生变化前提前介入状态参数调节控制，在被测芯片的状态参数发生变化时可即产生控制...

本发明属于数字信号提取技术领域，其目的在于提供一种数据压缩方法、组件、装置及系统。本发明通过接收原始数据和配置需求信息，并根据所述配置需求信息得到压缩系数；对所述压缩系数进行解析处理，得到所述压缩系数中所有待压缩数据块使能位位置信息；根...

本发明属于DDR测试技术领域，其目的在于提供一种DDR测试系统及方法。本发明基于主控模块通过编码的方式生成DDR测试指令，在对被测DDR进行测试时，可通过指令译码控制模块对所述DDR测试指令进行译码，得到所述DDR测试指令中的所有分测试...

本实用新型公开了一种内存插拔检测装置，所述内存插拔检测装置包括插槽、夹爪和检测单元，其中，夹爪设有两个并分别位于插槽的两端，夹爪具有相对的内侧和外侧，夹爪的内侧设有用于夹持内存条的夹持槽，夹爪的外侧连接有驱动设备；检测单元设有两个并分别...

本实用新型公开了一种内存插拔检测装置，所述内存插拔检测装置包括插槽、夹爪和检测单元，其中，夹爪设有两个并分别位于插槽的两端，夹爪具有相对的内侧和外侧，夹爪的内侧设有用于夹持内存条的夹持槽，夹爪的外侧连接有驱动设备；检测单元设有两个并分别...

本实用新型公开了一种芯片测试用控温及散热系统，所述芯片测试用控温及散热系统包括介质层、半导体制冷片和散热件；介质层包括第一介质层和第二介质层；半导体制冷片一端通过第一介质层连接测试板，半导体制冷片另一端通过第二介质层连接散热件；测试板上...

本实用新型公开了一种浮动夹爪及用于内存条测试的测试系统，所述浮动夹爪，包括外爪和内爪，内爪一侧活动设置在外爪上，内爪另一侧延伸至外爪外并设有夹持槽，夹持槽的表面构造为抛光面，外爪和内爪之间设有弹性缓冲结构。所述测试系统包括机械手和所述的...