本申请提出了增益电路的偏移校准方法、校准装置及高速DRAM接口，涉及高速通信技术领域，该增益电路的偏移校准方法包括：获取信号输入电路和参考电路输入的原始信号和误差信号；通过DFE加法器将原始信号和误差信号相加，并输出至采样器进行采样，以...

本申请提出了增益电路及高速DRAM接口，涉及测试技术领域，该增益电路包括：信号输入电路接入待增益信号；参考电路的输入端接入参考电压信号，参考电路用于设定增益的基准电压；调节电路分别与信号输入电路和参考电路电连接，调节电路用于动态调整信号...

本申请提出了信号偏移校准方法、校准装置及高速DRAM接口，涉及高速通信技术领域，该信号偏移校准方法包括：获取原始信号和误差信号；通过DFE加法器将原始信号和误差信号相加，并输出至采样器进行采样，以输出对应的采样结果；通过偏移控制逻辑器确...

本发明涉及电子数字数据处理技术领域，具体为一种内存条初始化失败的处理方法，该方法包括：判断内存条是否读取失败，若检测到错误内存信号则表明内存条读取失败，并将内存条标记为待测内存条；收集待测内存条的运行状态数据，包括内存条性能数据和老化状...

本发明提供一种芯片侧推测试装置及方法，其中的装置包括：包括测试探针及设置在所述测试探针一侧的弹性支撑组件；其中，所述测试探针包括探针臂以及设置在所述探针臂端部的接触端，所述接触端与待检测芯片上的金属凸点的支撑柱接触导通；所述弹性支撑组件...

本发明公开了基于LED的内存条安置检测方法和装置，涉及电子数字数据处理技术领域。首先对待检测内存条的安装状态信息进行监测分析，得到待检测内存条的安装状态表征值，有助于减少由于安装不当导致的测试偏差，从而提高了内存条测试的结果准确性，然后...

本发明公开了一种芯片测试的方法、系统、介质及设备，涉及芯片测试电数字数据处理技术领域。该方法，包括以下步骤：根据芯片第一性能对比分析结果对芯片判断进行老化测试或返修；根据芯片第二性能对比分析结果判断确定芯片老化测试流程或返修；根据芯片第...

本发明涉及内存条检测数据处理技术领域，具体公开一种内存条的智能接触检测方法和装置，该方法基于内存槽两端安装的各扩展金属管脚以及内存槽表面原有的各原始金属管脚，并通过内存槽中内存条的插入操作，使得各原始金属管脚的弹片从常开状态转换为常合状...

本发明公开了一种内存错误监控方法、装置、系统、设备、介质及产品，涉及内存测试技术领域。所述方法是先启动进入中断模式以监听信号输入引脚是否收到来自CPU的内存错误触发信号，若是则中断响应处理内存错误，并切换进入查询模式，然后在查询模式中定...

本发明提供一种针对on die ECC存储器的深度评测方法、系统，针对on die ECC存储器的深度评测方法、系统，通过引入ECS记录存储器内部实际修复及错误的数量，具体的，通过开启和关闭on die ECC存储器的手动ECS模式对o...

本发明提供一种测试装置及方法，其中的装置包括：测试探针；其中，所述测试探针包括探针臂以及设置在所述探针臂上的接触端；所述接触端包括一侧开口的接触头以及设置在所述接触头的开口端的倾斜导向臂；所述接触头在所述倾斜导向臂的弹性导向作用下，与待...

本发明公开了基于高精度电流传感器的内存条功耗检测方法及系统，涉及内存条检测技术领域，包括：S1、标签信息接收处理，S2、内存条检测，S3、检测数据分析，通过根据待检验内存条的标签信息进行分析得到检测执行约束参数，实现了对检测执行方式进行...

本发明涉及内存条数据处理技术领域，具体公开一种内存条故障定位保护方法、装置、介质及设备，该方法通过增加高精度电流传感器监测各内存条的各电源电路的电流状态，配合软件测量单一内存条的功耗，精准识别存在潜在故障的各内存条的各电源电路，由此定位...

本发明涉及芯片数据处理技术领域，具体公开一种量化芯片测试管理方法、装置以及存储介质，该方法通过监测并记录测试芯片的内部关键动态变化参数，以此量化评估测试芯片的内部波动指数，并筛选出性能稳定的芯片并进行后续封装处理，可减少芯片的售后维修和...

本发明属于内存测试技术领域，具体公开了一种SPD读写和内存测试同步方法、系统及程序产品，通过基板管理控制器将总线上同步挂载的各内存条所对应的通道切换开关依次单独打开，并对总线上同步挂载的各内存条逐条进行SPD读写测试，得到各内存条的SP...

本发明公开了一种全自动内存条测试机，包括测试机架、供料组件、机械手组件和测试仪组件；测试机架内设置供料组件、机械手组件和测试仪组件，供料组件沿测试机架的长度方向设置，以通过供料组件运输内存条，机械手组件设置于测试机架的上方，测试仪组件设...

本发明提供一种芯片测试装置及方法，其中的装置包括：包括呈阵列分布的测试探针；其中，所述待检测芯片的金属凸点设置在芯片保护层上，包括位于所述芯片保护层上的支撑柱以及位于所述支撑柱端部的焊料帽；所述测试探针具有一开口端，所述测试探针的开口端...

本发明公开了一种全自动内存条测试及分选设备，包括上料机、测试机、下料机和控制系统；所述上料机、测试机和下料机依次连接，所述上料机用于筛选待测内存条并送至所述测试机上，所述测试机用于测试内存条，所述下料机用于将已测内存条从所述测试机上取下...

本发明提供一种芯片测试装置及方法，其中的装置包括：探针支架以及设置在所述探针支架上的测试探针；其中，待检测芯片的金属凸点包括设置在芯片保护层上的支撑柱以及位于所述支撑柱端部的焊料帽；所述测试探针包括连接臂以及设置在所述连接臂端部的接触部...

本发明公开了一种半导体芯片的测试方法、装置、设备及介质，涉及电子数字数据处理技术领域。首先对半导体芯片的测试流程进行划分，分为内存测试阶段和性能测试阶段，可以更精确地评估半导体芯片的内存能力和性能特征，然后对半导体芯片的内存测试阶段进行...