一种方法，例如计算机实现的方法，用于确定诸如衬底的对象对在30千兆赫(GHz)与200GHz之间的频率范围内的电磁辐射的透射率。所述方法包括：确定衬底在对象的至少一个位置处的厚度；以及至少基于衬底的厚度，借助于第一模型确定透射率，第一模...

本发明涉及一种方法和测量装置，该方法和测量装置用于检测在压头(14)移动穿透测试样本(12)的表面或测试样本(12)的涂层期间的测量信号，特别是用于确定测试样本(12)上的涂层的粘合强度。根据该方法，测试样本(12)被固定在测量装置(1...

本发明涉及一种用于验证X射线荧光装置(9)的校准的测量对象(100)和方法，其中测量对象(100)具有主体(110)和布置在主体(110)上的至少一个标记(112)。标记由与主体(110)不同的材料形成，并且标记(112)配有至少一个另...

用于确定布置在主体上的多个层的层厚度的装置，其中，所述装置包括THz发射器和THz接收器，所述THz发射器被配置为向所述多个层发射THz信号，所述THz接收器被配置为接收THz信号的已由所述多个层中的至少一层反射的反射部分，其中，所述装...

本发明涉及一种X射线源(100；100a；100b；100c)，包括：电子源(110)，其用于以电子束(es)的形式提供电子(e)；和靶元件(120)，所述电子源(110)的所述电子束(es)的所述电子(e)能够对其撞击；和至少一个偏转...

本发明涉及一种X射线源，包括：电子源，其用于提供电子；和靶元件，其可以经受所述电子，其中，所述X射线源具有至少一个偏转设备(140)，其用于至少临时偏转电子(例如，电子束)。束)。束)。

本发明涉及一种测量探头(10、50、100、150)，特别是用于物体的表面上的触觉测量，所述测量探头包括壳体(12)、和容纳于所述壳体(12)中的测量头(11)，其中至少一个通信接口(14)设置在所述壳体(12)上，并且与布置在所述壳体...

本发明涉及一种使用太赫兹THz辐射确定可以施加到基板上的至少一个第一层的至少一种性质的方法，所述方法包括：确定所述基板的至少一种性质；将所述第一层施加到所述基板上；以及确定所述第一层的所述至少一种性质。以及确定所述第一层的所述至少一种性...

本发明涉及一种用于处理与模型相关联的数据的方法，所述模型表征THz辐射例如在至少一个太赫兹设备和/或至少一个对象的区域中的传播，所述至少一个对象例如可以借助于所述太赫兹辐射被检查，所述方法包括以下步骤：评估所述模型，其中，获得评估结果，...

本发明涉及一种用于发送和/或接收太赫兹(THz)辐射的THz设备，包括：至少一个THz元件，其被设计为发送和/或接收THz辐射；以及数字数据处理装置，其中，特别地，该数字数据处理装置被设计为至少暂时处理THz设备的至少一个组件的第一信号...

本发明涉及一种用于在测量对象(11)的表面(13)上进行触觉测量的方法，其中，借助于触觉测量探头(12)检测至少一个测量值(32)，其中，所述至少一个测量值(32)由数据处理设备(16)传送到数据眼镜(20)，并且所述至少一个测量值(3...

用于确定布置在主体上的多个层的层厚度的装置，其中，所述装置包括THz发射器和THz接收器，所述THz发射器被配置为向所述多个层发射THz信号，所述THz接收器被配置为接收THz信号的已由所述多个层中的至少一层反射的反射部分，其中，所述装...

本发明涉及一种用于X射线荧光分析装置，包括X射线源(10)，用来利用X射束(19)辐照试样(15)；X射线探测器(17)，用于测量由所述试样(15)发出的X射线荧光辐射(16)；以及摄像机(25)，用于经由光学镜(20)产生试样(15)...

本发明涉及用于检测压头(41)到试样(14)的表面内的压入运动期间的测量信号的测量设备、测量组件和方法，尤其用于硬度测量，或者用于求取试样(14)的表面的耐刮强度，或者用于检测压头(41)在试样(14)的表面上扫描运动期间的测量信号、尤...

本发明涉及一种用于测量磁导率未知的可磁化基底材料上的不可磁化层的厚度的方法，提供测量探针，测量探针具有探头，探头包括带有第一线圈和第二线圈的罐形芯，第一线圈和第二线圈绕共同的几何轴线布置并形成第一线圈对，探头具有位于几何轴线上的支承帽。...

本发明涉及一种用于在穿透体(41)到测试体(14)的表面中的穿透运动期间检测测量信号、特别地用于确定测试体(14)的表面的抗刮擦性或者用于在穿透体(41)在测试体(14)的表面上的扫描运动期间检测测量信号、特别地用于确定表面粗糙度的测量...

本发明涉及一种用于在穿透体(41)到测试物体(14)的表面中的穿透运动期间或在穿透体(41)于测试物体(14)的表面上的感测运动期间检测测量信号的测量设备。所述测量设备包括容纳力发生装置(44)的壳体(47)，并且保持元件(75)与力发...

本发明涉及一种用于夹持工件(19)、特别是晶片的真空夹盘，以及借助X光荧光辐射检测工件、特别是晶片的测量装置和方法。

本发明涉及X射线荧光分析的手持设备以及便携装置，具有壳体和把手；壳体内的X射线荧光测量装置，其包含辐射源，主射束由辐射源通过出口窗照射于测量物体的测量表面；壳体上的检测器，其检测由测量表面发出的辅助辐射；在壳体内布置的数据处理装置，其控...

本发明涉及一种用于X射线荧光分析装置，包括X射线源(10)，用来利用X射束(19)辐照试样(15)；X射线探测器(17)，用于测量由所述试样(15)发出的X射线荧光辐射(16)；以及摄像机(25)，用于经由光学镜(20)产生试样(15)...