本发明提供一种探针卡，该探针卡具有空间变换器，所述空间变换器可有效地变化以对应于晶圆芯片结构的变化，且能够使空间变换器的可接受通道最大化。用于测试晶圆上的半导体芯片的探针卡包括：空间变换器本体，其中多个单元探针模块间隔配置；主电路板，电...