本发明实施例提供一种死锁测试方法、装置、系统及相关设备，其中方法包括：选取2个主设备分别为第一主设备和第二主设备，选取2个从设备分别为第一从设备和第二从设备；自第一主设备向第一从设备发送第一类型测试事务，且自第二主设备向第二从设备发送第...

本发明实施例提供一种直接内存访问控制器、数据搬运方法、芯片，其中，所述直接内存访问控制器，包括：读控制器、写控制器和请求状态管理模块；请求状态管理模块，用于至少记录各个地址空间的起始地址，以及各个地址空间中可处理的各个请求的请求标识，每...

本发明实施例公开一种预取控制装置、方法、处理器及电子设备，涉及计算机技术领域，能够在更丰富的应用场景中有效降低数据预取功耗，减少或避免缓存污染。所述装置包括：获取模块，用于与预取输入过滤器耦合，被配置为从预取输入过滤器获取目标访存信息并...

本公开提供一种芯片验证方法、验证装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取第一待测对象模块，第一待测对象模块被配置为在第一模式下接收第一随机激励且在执行第一随机激励信号后得到第一响应信号，用以验证第一待测对象模块；获取参考监控信息，参考...

本申请实施例提供一种重排序缓冲区验证方法及相关设备，包括：获取用于验证重排序缓冲区的待测指令的指令信息和重排序缓冲区处理所述待测指令时的处理信息，其中，所述重排序缓冲区处理所述待测指令时的处理信息为实时获取；基于所述指令信息和处理信息，...

本申请提供一种标准单元版图生成方法、装置、电子设备及存储介质，涉及计算机的技术领域。标准单元版图生成方法，包括：基于待绘制标准单元的硬件描述语言与驱动能力，从预设的亚电路库中提取出至少一个亚电路，得到所述待绘制标准单元的对应的目标亚电路...

本申请实施例提供一种位操作指令计算电路、芯片、处理器及电子设备，所述位操作指令计算电路包括，位反转模块，用于对第一指令类型的待计算指令中的源操作数倒序排布，得到中间操作数；或者，将第二指令类型的待计算指令中的源操作数作为中间操作数；其中...

本申请提供一种晶体管串联电路的优化方法、装置、电子设备及存储介质，涉及芯片技术领域，方法包括：获取待拆分的晶体管串联电路；按照设定的拆分规则对所述晶体管串联电路进行拆分，得到所有符合所述拆分规则的晶体管电路；对各所述晶体管电路进行性能评...

本申请实施例提供一种芯片、芯片的测试方法及电子设备，其中芯片包括多个芯粒，所述多个芯粒包括互连的第一芯粒以及第二芯粒；所述第一芯粒包括第一片上存储器、以及控制所述第一片上存储器的控制器；所述第二芯粒包括第二片上存储器；其中，所述控制器输...

一种电路检测方法、电路检测装置、电子设备和计算机可读存储介质。该电路检测方法包括：获取待检测的设计文件，设计文件包括多个电路元件的信息；基于多个电路元件的信息，从设计文件中识别得到满足跨复位域电路的结构特征的至少一个初始检测电路；将至少...

本发明提供一种散热封装结构，所述散热封装结构包括上散热盖和下散热盖；所述下散热盖的主体为方形环结构，所述方形环结构的内腔形成有用来放置基板的承托台，所述方形环结构的四角位置具有向上凸出的下卡扣；所述上散热盖的四角位置具有与所述下卡扣配合...

本公开提供一种验证方法、验证系统、设备以及存储介质。该方法包括：获取待测对象模块，待测对象模块包括待测模块主体，待测模块主体包括第一类型模拟单元与第二类型模拟单元，第一类型模拟单元包括第一模型和第一封装单元，第二类型模拟单元包括第二模型...

本申请实施例提供一种测试配置方法、硬件仿真器及测试系统，其中测试配置方法应用于硬件仿真器内的虚拟调试器，硬件仿真器映射有待测设计，所述虚拟调试器在待测设计的顶层虚拟；所述方法包括：获取多条移位指令，所述多条移位指令由配置命令分解而成，所...

本发明实施例提供一种芯片设计仿真方法、平台及相关设备，其中，所述方法包括：获取芯片设计的配置信息；检查所述配置信息是否满足所述芯片设计的逻辑设计需求；在检查结果为是时，利用所述配置信息建立测试激励，以及根据所述测试激励对所述芯片设计进行...

一种通信结构和芯片。该通信结构包括多个端口，每个端口配置为使与所述每个端口耦接的设备与其他设备通信，所述多个端口包括物理层接口和媒介层控制器，所述多个端口共享所述媒介层控制器，所述媒介层控制器用于与所述多个端口的所述物理层接口交互，所述...

本申请涉及一种缓存数据预取方法、处理器及电子设备，属于计算机领域。该缓存数据预取方法包括：在缓存数据预取过程中，获取预取数据的预取准确率；基于所述预取准确率判断是否需要从当前预取模式切换至其他预取模式；在为是时，从当前预取模式切换至其他...

本申请的实施例公开了一种PCIe完成超时错误处理方法及控制单元，涉及计算机及集成电路等领域，为提高数据传输的可靠性。所述超时错误控制单元，包括：检测模块，用于检测目标PCIe链路的状态是否异常；还用于检测目标PCIe链路的缓存单元中是否...

本发明实施例提供一种总线协议验证方法、系统及相关设备，其中，所述方法，包括：获取响应数据，所述响应数据由总线协议的待测设计在对应激励请求的作用下产生，且所述激励请求基于符合总线协议的请求信息获得；在确定所述响应数据为验证任务所需时，确定...

本申请公开了一种芯片测试程序生成方法、装置、电子设备及存储介质，涉及芯片测试技术领域。所述方法包括：基于待测功能模块列表，为待测功能模块列表中的各待测功能模块创建对应的测试程序开发仓库；其中，各待测功能模块为同一芯片上的待测功能模块；基...

本申请的实施例公开了一种半导体产品物料清单生成方法、装置及电子设备，涉及半导体制造技术领域，为便于提高半导体制造厂商生产效率而发明。所述方法，包括：接收工程变更信息以及所述工程变更信息所应用的应用场景信息；所述应用场景信息包括预设的生产...