本申请涉及一种芯片测试载具和芯片测试设备，涉及半导体技术领域，该芯片测试载具包括载板主体和盖板，载板主体包括底板和限位围墙，底板上设置有探针，限位围墙设置在底板的边缘，并围设在探针周围，限位围墙和底板形成具有开口的定位空腔；盖板可拆卸地...