本发明提供一种基于机器视觉的半导体器件质量检测方法、装置及系统，采用依据初始图像表征向量在一个或多个推理层面对拟识别半导体器件图像的内容进行本真情况推理，得到拟识别半导体器件图像分别在各推理层面的本真情况推理结果，基于对初始图像表征向量...

本申请提供了一种基于通信抗干扰的方法及相关装置，涉及通信技术领域。该方法应用于通信系统的第一终端，第一终端上设置有多个天线，通信系统还包括第二终端与信号中转站，第一终端与第二终端通过信号中转站通信，当通过目标天线与第二终端通信时，检测通...

本实用新型公开了一种具有数据分析的半导体载荷测试装置，包括工作台，所述工作台上固定安装有固定架，所述固定架和工作台之间转动安装有丝杆，所述丝杆的丝杆座上固定连接有连接板，所述连接板的下端通过连接杆安装有检测头，所述工作台上固定安装有底座...

本实用新型公开了一种电子元器件耐高温用测试机箱，所述测试机箱本体顶部固定安装有固定架，所述固定架内部固定安装有风扇，所述测试机箱本体顶部位于风扇处固定安装有防护网，所述测试机箱本体表面一侧固定安装有第一防尘网，所述测试机箱本体表面另一侧...

本实用新型公开了一种电子元器件测试夹具装置，包括夹具箱，所述夹具箱内一侧固定安装有电机，所述电机的输出轴端固定连接有转轴，所述转轴远离电机一端固定连接有齿轮，所述夹具箱内顶部和底部分别设置有上齿板和下齿板，所述齿轮与上齿板之间相互啮合，...