本发明涉及一种迭代式的形式验证断言空泛性强度的测试方法、存储介质和终端，方法包括如下步骤：将断言的每一子表达式分别置为0和1后进行综合并做自动机最小化处理，得到的两个结果若相同则认为断言具有空泛性。本发明基于最广泛的空泛性定义，增加了测...

本发明涉及基于外部引入逻辑电路的形式验证断言空泛性的纠正方法、存储介质和终端，方法包括如下步骤：将断言的每一子表达式分别置为0和1后进行综合并做自动机最小化处理，得到的两个结果若相同则认为断言具有空泛性。本发明基于最广泛的空泛性定义，增...

本发明属于芯片设计领域，公开了一种对组合逻辑电路等价验证的分级方法，包括以下步骤：S1、对优化前后的芯片设计进行触发器配对；S2、对配对后的触发器的跳转逻辑电路进行分级，所述分级包括：所述跳转逻辑电路的输入信号级数为0；所述跳转逻辑电路...

本发明公开了一种基于证明核的回归测试方法、存储介质及系统，该方法包括以下内容：对芯片设计的属性进行形式验证，所述属性验证为真后，记录对应属性的证明核，所述证明核中存储驱动逻辑电路的信号；对修改后的芯片设计进行回归测试，其中对于每一个被验...

本发明公开了一种基于云计算的形式验证平台及其方法，平台包括通过网络连接的客户端和云服务端；所述的客户端包括前端模块、中端模块和调配模块，所述的前端模块用于读入和解析芯片设计语言，所述的中端模块用于进行形式化建模，所述的调配模块用于对算法...

本发明公开了属性综合中活性条件提取和可视化方法、系统、存储介质和终端，方法包括以下步骤：将描述芯片形式验证属性的基于正则表达式的断言转换为不确定状态机；将不确定状态机转换为确定状态机；在各转换步骤之后，提取状态循环上的状态转换条件并将其...

本发明涉及一种形式验证断言空泛性的测试和自动纠正方法、存储介质和终端，方法包括如下步骤：将断言的每一子表达式分别置为0和1后进行综合并做自动机最小化处理，得到的两个结果若相同则认为断言具有空泛性。本发明基于最广泛的空泛性定义，增加了测试...

本发明涉及一种断言状态机和波形图的联合同步纠错方法、存储介质和终端，方法包括如下步骤：步骤1：在形式或仿真验证发现错误属性后生成波形图，所述波形图显示从初始到出错状态的相关信号波形；步骤2：出错属性被综合成确定性状态机并生成属性状态机图...

本发明涉及一种形式验证中断言综合的可视化方法、存储介质和终端，方法包括如下步骤：步骤1：对断言进行从断言到非确定自动机的综合,并将所生成的非确定自动机转换为状态机图形予以显示；步骤2：对步骤1中的非确定自动机优化，并将优化的非确定自动机...

本发明涉及一种开放的芯片形式验证方法、存储介质、终端和系统，对验证工具进行模块化，形成前端、中端、控制模块和后端，所述方法包括如下步骤：所述前端获取输入的设计代码，经过解析综合后形成第一阶段的综合数据，生成网表；所述中端在所述网表基础上...

本发明公开了一种芯片安全监视方法和安全监视芯片，方法包括以下步骤：被植入芯片的监视器对芯片操作进行监视；其中，所述的监视器包括第一状态机和/或第二状态机，所述的第一状态机为由已知的芯片攻击所建立的模型对应得到，所述的第二状态机为由断言描...

本发明公开了一种仿真测试案例生成方法、系统、存储介质和终端，方法包括以下步骤：设置基于设计输入端规范的约束；读入将要被验证的设计；提取所述设计的关键信号及相应的状态机；生成所述状态机的相应的可达性属性；对所述设计、所述约束和所述可达性属...