本技术公开了一种LED芯片成像检测装置，包括：非接触式检测机构及固定于其一侧的芯片检测进料机构，芯片检测进料机构包括容纳多个叠放的载物板的槽，芯片检测进料机构下部还设有左右贯通的供载物板移出的通道，芯片进料机构中的推料机构将载物板推至非...