本申请提供了一种探针卡PCB设计方法、系统及探针卡PCB板，该探针卡PCB设计方法包括以下步骤：在ATE电源的Force Line与探针焊盘之间设置过流保护器件；利用所述过流保护器件对探针卡的探针进行过流保护，完成探针卡PCB设计。在上...

本申请提供了一种光感芯片测试装置，该光感芯片测试装置包括：壳体，所述壳体上设置有吸附机构和光源槽，所述吸附机构，用于吸取待测试光感芯片；所述光源槽，用于为所述待测试光感芯片提供照射光源。在上述技术方案中，通过设置吸附机构和光源槽，所述吸...

本申请提供了一种探针卡针尖接触判断系统及方法，该探针卡针尖接触判断系统包括：固定机构和调节机构，所述固定机构，用于固定待检测探针卡；所述调节机构与所述待检测探针卡连接，用于辅助所述待检测探针卡的检测。在上述技术方案中，通过设置固定机构和...

本发明涉及集成电路测试技术领域，具体公开一种晶圆测试结果检验方法、系统、电子设备和存储介质，该方法包括：获取用于表征目标批次的当前待测晶圆的测试结果的inkless map文件，并提取所述inkless map文件中的格式数据；当所述格...

本发明涉及集成电路技术领域，具体公开一种晶圆测试轨迹生成方法、系统、电子设备和存储介质，包括：获取待测晶圆的尺寸信息和用于测试所述待测晶圆的探针卡的测试矩形区域，并将所述待测晶圆的圆周上的任意一点确定为目标点；将所述目标点所在的切线的延...

本申请提供了一种清针砂纸、清针装置及测试设备，该清针砂纸包括：从下至上依次设置的缓冲层、研磨层和塑针层。在上述技术方案中，通过从下至上依次设置的缓冲层、研磨层和塑针层，所述缓冲层，用于对接触力进行缓冲；所述研磨层，用于对探针针尖进行打磨...

本申请提供了一种可调节氮气环高度的高电压探针卡，该可调节氮气环高度的高电压探针卡包括：氮气环，所述氮气环包括氮气内环和氮气外环，所述氮气内环和所述氮气外环套装滑动连接，所述氮气内环和所述氮气外环之间设置有导向机构和固定机构，所述导向机构...

本发明涉及晶圆测试技术领域，具体公开一种晶圆区域性失效检测方法、系统、电子设备和存储介质，该方法包括：获取待测晶圆的MAP图中的失效芯片坐标集合，计算所述失效芯片坐标集合与自身的笛卡尔积，并计算所述笛卡尔积中的每个坐标对的曼哈顿距离；将...

本发明涉及集成电路测试技术领域，具体公开一种探针台盖板调平方法及系统，该方法包括：利用目标探针卡对待测探针台进行施压，获取所述目标探针卡处于极限状态时的每根预设探针的测试高度；当任意两根预设探针的测试高度之差大于预设值时，对所述待测探针...

本发明涉及半导体技术领域，具体公开一种用于晶圆高电压测试的探卡，该探卡包括：密封结构以及探卡本体；所述密封结构设置在所述探卡本体的探针的引出区域上；当所述探针接触待测晶圆表面时，所述密封结构与所述待测晶圆表面形成封闭腔体，所述封闭腔体的...

本发明实施例公开了一种资源共享结构测试负载板的检测方法、装置及电子设备，方法包括：在进行常规测试之前，将待测试的资源共享结构测试负载板接入测试系统，根据待测试的资源共享结构负载板的资源共享方案，对地址控制进行检测，排除资源共享中存在的问...

本发明实施例提供一种清针片及其制作方法、清针装具、探针清洁方法及装置，其中，清针片包括清针板和安装在清针板上的清针砂纸，所述清针砂纸采用的材料为3M T‑C2L。本发明实施例能够达到有效的清针效果，降低对探针卡上探针的磨损，且清针效率高。

本发明公开了J750系统数据下载方法、系统、电子设备及存储介质，涉及数据批量处理领域。该方法包括：步骤1，将待测试芯片的Flash数据文件转换为J750格式的Flash下载数据测试图形文本模板文件；步骤2，通过算法对Flash下载数据测...

本发明公开了一种集成电路测试中site的管控方法及系统，涉及集成电路领域。该方法包括：步骤1，获取bin值排序文件；步骤2，统计集成电路并行测试中每个bin值在不同site下出现的个数，生成统计表；步骤3，根据所述bin值排序文件，对统...

本发明提供了一种获取探针台程序名称的方法及装置。方法包括：检测探针台调用探针台程序后，获取FTP服务器的日志；对所述日志进行解析获取探针台调用的探针台程序的第一名称。装置包括：获取单元，用于检测探针台调用探针台程序后，获取FTP服务器的...

本发明实施例提供一种基于MES的晶圆测试方法及系统，该方法包括：根据待测晶圆的批次信息，在MES上获取对应的测试信息，并将批次信息及测试信息存储到测试机的配置文件中；其中，测试信息包括测试程序存储路径；然后，启动测试机UI模块；测试机U...

本发明实施例提供一种针对智能卡芯片的测试系统，包括测试机及参与并行测试的多个智能卡芯片；其中：测试机包括一个或多个100MDM板卡，100MDM板卡包括多个100MDM测试资源；并且，每个智能卡芯片的VCC管脚单独连接100MDM板卡进...

本发明涉及晶圆技术领域，尤其涉及一种晶圆打点装置，包括打点组件，打点组件包括墨斗、导墨丝和驱动器，墨斗位于驱动器的下方，导墨丝自上而下穿过墨斗，且驱动器的活动端与导墨丝连接，以控制导墨丝的尖端上下移动对晶圆表面打点。本发明的晶圆打点装置...

本发明提供一种内嵌flash芯片的基准源修调方法，包括：S1、通过ATE测试机对内嵌flash芯片中预设的基本基准源进行修调，获得基本基准源的修调结果；S2、对于所述内嵌flash芯片中其他的任意一个基准源，通过所述内嵌flash芯片自...

本发明提供一种对闪存芯片编码的方法和装置，通过晶圆所属的生产批次号、晶圆对应的编号、芯片在晶圆上的坐标值和对芯片进行测试时的系统时间分别转换成二进制码，拼接后形成最终编码；或者，确定晶圆所属的生产批次号对应的一个二进制编码，确定芯片对应...