本实用新型公开了一种半导体生产用晶棒性能连续测试架，涉及晶棒测试技术领域，包括支架、设置于支架顶部左前端的测试仪本体、通过立柱与支架顶部左后端的横板和滑动设置于横板下方的用于检测晶棒的上测板，晶棒为多个，分别固定于放置机构内，支架顶部右...

本实用新型公开了一种硅晶片生产加工用研磨装置，包括操作台面、支撑杆、弧形槽、支撑架、转盘、驱动电机、刷头、连接柱、支撑立柱以及调节螺栓。本实用新型一种硅晶片生产加工用研磨装置通过调节螺栓调节刷头相对于转盘的相对于位置，从而便于对刷头相对...